ZHCAGB1 August   2026 DRV8904-Q1 , DRV8906-Q1 , DRV8908-Q1 , DRV8910-Q1 , DRV8912-Q1

 

  1.   1
  2.   摘要
  3. 1应用背景
    1. 1.1 器件概述
    2. 1.2 OLD 功能概述
  4. 2OLD应用问题及分析
    1. 2.1 问题一：PWM控制下主动续流出现 OLD误报
      1. 2.1.1 问题描述
      2. 2.1.2 原因分析
      3. 2.1.3 应用建议
    2. 2.2 问题二：经过Sleep-Wake 周期在OLD状态下如何保持输出
      1. 2.2.1 问题描述
      2. 2.2.2 原因分析
      3. 2.2.3 波形论证
      4. 2.2.4 应用建议
    3. 2.3 问题三：LOLD（低电流主动开路检测）如何触发
      1. 2.3.1 问题描述
      2. 2.3.2 原因分析
      3. 2.3.3 波形论证
      4. 2.3.4 应用建议
  5. 3结论
  6. 4参考文档

2.3.2 原因分析

问题的根因在于 HBx_OLD_DIS 与 HBx_LOLD_EN 两个寄存器位的控制层级关系：

HBx_OLD_DIS = 1b 是完全禁用该半桥的所有 OLD 检测功能，包括主动 OLD、负电流 OLD 以及低电流 LOLD。该位是 OLD 的总开关，优先级最高。

HBx_LOLD_EN = 1b 的场景为：在 OLD 总体使能（HBx_OLD_DIS = 0b）的前提下，将该半桥低侧 FET 的 OLD 阈值切换至低电流模式（IOLD_LOW），同时禁用高侧 FET 的 OLD 检测，以防止高侧 FET 因 IOLD_LOW 阈值过低而产生误报。

因此，当 HBx_OLD_DIS = 1b 时，无论 HBx_LOLD_EN 为何值，整个 OLD 功能均被关闭，LOLD 无法工作。

完整的 OLD/LOLD 控制逻辑如下表所示：

表 2-2 HBx_OLD_DIS / HBx_LOLD_EN 控制逻辑
HBx_OLD_DIS HBx_LOLD_EN LS FET OLD HS FET OLD OLD 阈值 故障上报
0b 0b 使能 使能 IOLD（主动 OLD） 使能
0b 1b 使能 禁用 IOLD_LOW（LOLD） 使能
1b / 禁用 禁用 / 禁用[DW1]