在 load.asm 中，如果删除了以下红线，但保留了两条蓝线，则会导致器件持续复位，因为 r4 没有有效值。在这种情况下，器件会永久锁定，并且这 5 条线将完全删除或保留。

B_fast_interrupt
         .align 4
         .sect ".text"
             .state32
c_int00
;            B      c_int00 
             LDR          r13, c_sup_stack_top ; initialize supervisor stack pointer
;            LDR          r4,c_mfbalr1_half0 ;point r4 at program flash base address register
;            MOV          r0,#0x62 ;make block size 32K, address 0, read only
;            STRH   r0,[r4]; store it there
             LDR          r0,c_mfbalr2_half0_load ;set up data flash for write only
             STRH   r0,[r4,#8] ;put it into mfbalr2

如果应用中没有引导加载程序，但选择了 Boot support，则地址 0x7f4（或 0x7f8）处可以存在用于引导的有效校验和。由于未使用引导加载程序，因此 0x7f4（或 0x7f8）处的校验和无法清除，并可能导致锁定。

图 2-1 引导支持选择

zero_out_integrity_word 函数用于清除校验和的指定位置。当 zero_out_integrity_word 函数未在 32 位模式下进行编译时，可能会发生锁定。此函数通常位于名为 zero_out_integrity_word.c 的独立文件中不同工程的函数名或文件名可能略有不同，但通常如下所示。

#define program_flash_integrity_word (*((volatile unsigned long *) 0x7ffc))
//last word in flash, when executing from Flash.  used to store integrity code

void zero_out_integrity_word(void)
{
    DecRegs.FLASHILOCK.all = 0x42DC157E;// Write key to Program Flash Interlock Register
    DecRegs.MFBALR1.all = MFBALRX_BYTE0_BLOCK_SIZE_32K; //enable program flash write    program_flash_integrity_word = 0;
   DecRegs.MFBALR1.all = MFBALRX_BYTE0_BLOCK_SIZE_32K + MFBALRX_BYTE0_RONLY;

    while(DecRegs.PFLASHCTRL.bit.BUSY != 0)
    {
        ; //do nothing while it programs
}

    return;
}

要检查此函数/文件是否在 32 位模式下编译：

• 右键点击 zero_out_integrity_word.c > Properties > CCS Build > ARM Compiler > Processor Option > Designate code state。
• 如果当前为 16，则更改为 32（如图 2-2 所示。）
• 重建工程。

请注意，此选项通过 CCS 中的配置完成，所以当变更 CCS 版本或编译器版本时，zero_out_integrity_word 函数可能会失败。

图 2-2 指定代码状态

另一种选择是使用预处理器指令 #pragma 告知编译器在 32 位模式下编译指定函数。下面是一个示例：

#define program_flash_integrity_word (*((volatile unsigned long *) 0x7ffc))
//last word in flash, when executing from Flash.  used to store integrity code

#pragma CODE_STATE(zero_out_integrity_word, 32) // 16 = thumb mode, 32 = ARM mode
void zero_out_integrity_word(void)
{
    DecRegs.FLASHILOCK.all = 0x42DC157E;// Write key to Program Flash Interlock Register
    DecRegs.MFBALR1.all = MFBALRX_BYTE0_BLOCK_SIZE_32K; //enable program flash write
    program_flash_integrity_word = 0;
   DecRegs.MFBALR1.all = MFBALRX_BYTE0_BLOCK_SIZE_32K + MFBALRX_BYTE0_RONLY; 
    while(DecRegs.PFLASHCTRL.bit.BUSY != 0)
    {
        ; //do nothing while it programs
}

    return;
}

当 zero_out_integrity_word 函数正常运行时可能会发生锁定，而 PMBus 通信失败的原因在于 zero_out_integrity_word 通常由 PMBus 命令触发。

要进行调试，请在应用代码的开头放置后门，如下所示。这是为了确保器件能够在满足后门条件时恢复。

void main()
{
	volatile unsigned int dummy;
	if(GioRegs.FAULTIN.bit.FLT3_IN == 0)// Re-Check pin assignment 
	{
		clear_integrity_word();
}
}

如果在使用旧 GUI 编程期间出现意外情况，则可能会发生锁定（例如，电源关闭或电线松动）。在使用引导校验和的情况下尤其如此。这是因为旧 GUI 程序按顺序从低地址转为高地址。如果发生这种情况，请使用最新的 GUI 工具 Fusion Digital Power Studio。该工具最后对校验和进行编程，从而使器件有机会在复位时恢复。

要避免锁定，请执行以下三个步骤：

步骤 1：如果固件可能无法正常运行，请勿在对 UCD 器件进行编程时写入校验和。虽然编程后校验和仍可跳转到 pflash 执行，但 UCD 器件始终可以在复位时返回到 ROM 模式。请遵循图 3-1 所示配置。

图 3-1 无校验和编程

步骤 2：确认已正确清除校验和的预期位置。点击命令 Command Program to jump to ROM (Send Byte 0xD9 to address xx)，将 UCD 发送回 ROM 模式。

图 3-2 跳转至 ROM 模式

步骤 3：转至 Checksums 标签。选择 Dump 按钮来通过配置 Block Configuration 读取每个校验和。检查是否清除了预期的校验和位置。如果已正确清除，该字段将显示为零。

图 3-3 校验和值验证

检查代码，确认是否已清除正确的校验和。按预期清除后，使用校验和对 UCD 器件进行编程。

如果器件无法重新编程，但固件和存储器调试器的读写功能正常运行，则可以通过 JTAG 解锁。

JTAG 端口主要包括 4 个引脚：TCK/TDI/TDO/TMS。如果禁用 JTAG 功能，这 4 个引脚可在 GPIO 模式下正常运行，这在应用中是正常情况。要启用 JTAG 功能，请检查以下寄存器的配置，并在必要时进行重新配置。将 IOMUX 寄存器设置为 0 以便启用 JTAG，并确保 TCK/TDI/TDO/TMS 引脚均不在 GPIO 模式下运行。这可以通过 UCD3xxx 器件 GUI 中的存储器调试器来完成。

       MiscAnalogRegs.IOMUX.all = 0; //enable JTAG

                MiscAnalogRegs.GLBIOEN.bit.TCK_IO_EN = 0;
                MiscAnalogRegs.GLBIOEN.bit.TDI_IO_EN = 0;
                MiscAnalogRegs.GLBIOEN.bit.TDO_IO_EN = 0;
                MiscAnalogRegs.GLBIOEN.bit.TMS_IO_EN = 0;

在 CCS 顶部的菜单中，点击 View > Target Configurations。在目标配置窗格中，右键点击“User Defined”，选择 New target configuration。在文件名中填写有意义的配置名称（例如，仿真器类型）和 UCD 型号，如图 4-1 所示。点击 Finish。

图 4-1 新目标配置

在 Connection 和 Board or Device 项中，分别选择正确的仿真器类型和 UCD 型号。下面以 JTAG XDS110 和 UCD3138064A 为例展示。

图 4-2 仿真器类型和 UCD 型号选择

在“Advanced”选项卡中，将 TCLK 频率从 5.5MHz 更改为 1.0MHz。使用大于 1MHz 但小于 5.5MHz 的值进行实验。点击“Save”。

图 4-3 TCLK 频率配置

点击 Test Connection。测试完成后，向下滚动至弹出窗口的底部并观察是否显示如图 4-4 所示的消息。如果未显示该消息，则说明物理连接或设置存在问题。

图 4-4 JTAG 连接成功

右键点击 ucd3138064a-xds110.ccxml 并选择 Launch Selected Configuration。此时会显示如图 4-5 所示的调试窗口。在顶部菜单上，点击 Run > Connect Target。

采用以下步骤：

• 转到 Registers 选项卡，清除 MFBALR1 寄存器中的 RONLY 位。
• 将 FLASHILOCK 寄存器的值设置为 0x42DC157E。
• 设置 PFLASHCTRL1 中的 MASS_ERASE 位。这会擦除 UCD3138064A 中的块 1。
• 退出调试模式并复位器件。此器件现在处于 ROM 模式。

图 4-5 调试模式

• 德州仪器 (TI)，Fusion Digital Power Studio。
• 德州仪器 (TI)，UCD3138064 编程手册。
• 德州仪器 (TI)，UCD3138A64/UCD3138128 编程手册。