ZHDS464 October 2026 TIOM2212
ADVANCE INFORMATION
该器件具有高侧开关 (HSS) 栅极驱动器,可在 C/Q 输出端提供额外的驱动。栅极驱动器可控制引脚 CQG1x 和 CQG2x,为 HSS 提供有源电流限制、反极性保护和自动重试功能。使用放置在 CQS1x 与 CQS2x 之间的检测电阻器来检测流经 HSS 的电流。流经检测电阻的电流被主动控制为 ILIM = VTH/RSENSE。检测电阻上设置了 VTH = 15mV 的默认阈值。可以使用 HSS_CFG0 寄存器(HSS_CLIM 位)将此阈值配置为以下值之一:15mV、30mV、60mV 和 120mV。
可以使用相应通道的 HSS_CFG1 寄存器中的 HSS_GATE_DRV_EN 位来单独启用 CQx HSS 控制器。
连接到 CQG1x 的 FET 控制 HSS 电流值和状态 (ON/OFF),而连接到 CQG2x 的 FET 提供反极性保护。反极性阈值在检测电阻器上设置为 100mV。这两个 FET 的状态都可以使用 HSS_CFG1 中的 HSS_CQG1_EN 及 HSS_CQG2_EN 位单独控制。
所有栅极驱动器都支持 NFET,从而降低总体系统成本。这些驱动器能够以 >10kHz 的速度开关外部 NFET。
自动重试功能
HSS_CFG0 寄存器可用于配置 HSS 电流限制。HSS_TSC 和 HSS_TAR 分别设置电流消隐时间及自动重试时间。如果 HSS 电流超过由 HSS_CLIM 位设置的 ILIM,则会生成过流故障。当 HSS 超过 HSS_CLIM 时,该器件支持两种模式(由 HSS_AR_DIS 设置)。该器件可以继续无限期地提供电流,直到达到热关断阈值,也可以在自动重试模式下运行。在自动重试模式下,器件在等于电流消隐时间的持续时间内提供等于 HSS_CLIM 的电流,然后在等于自动重试时间的持续时间内禁用输出。只要 HSS 继续超过 HSS_CLIM,此例程就会重复多次,直到达到 HSS_MAX_AR 字段中设置的值(如果该字段的值为 0000b,它将重复无限次)。
为了进一步降低需要大浪涌电流(例如容性负载)的负载导通期间外部 NFET 中耗散的功率,限流器包含一个动态消隐时间模式,该模式可以在 FET 上的电压为高电平时缩短消隐时间,从而限制初始导通阶段的脉冲能量。当 HSS 输出电压低于 7V 时,动态消隐时间模式可运行,必须通过设置 HSS_CFG1 寄存器中的 HSS_DYBL_EN 位来启用该模式。
电流检测功能
TIOM2212 为 HSS 提供电流检测功能。检测电阻两端的电压使用 GMSNS、HSS 转换为电流,并提供给引脚 SNS_CQA/B。GMSNS、HSS 与 VTH(15mV、30mV、60mV、120mV)设置成正比。可以在 SNS_CQA/B 和 LM 引脚之间连接一个电阻器,将电流转换为可由微控制器 ADC 检测的电压。可以通过设置 HSS_CFG1 寄存器中的 HSS_SNS_EN 位来启用电流检测功能。