ZHCSSK5D august   2003  – august 2023 SN74LV86A-Q1

PRODUCTION DATA  

  1.   1
  2. 1特性
  3. 2说明
  4. 3Revision History
  5. 4Pin Configuration and Functions
  6. 5Specifications
    1. 5.1  Absolute Maximum Ratings
    2. 5.2  ESD Ratings
    3. 5.3  Recommended Operating Conditions
    4. 5.4  Thermal Information
    5. 5.5  Electrical Characteristics
    6. 5.6  Switching Characteristics, VCC = 2.5 V ±0.2 V
    7. 5.7  Switching Characteristics, VCC = 3.3 V ±0.3 V
    8. 5.8  Switching Characteristics, VCC = 5 V ±0.5 V
    9. 5.9  Noise Characteristics
    10. 5.10 Operating Characteristics
  7. 6Parameter Measurement Information
  8. 7Detailed Description
    1. 7.1 Overview
    2. 7.2 Functional Block Diagram
    3. 7.3 Device Functional Modes
  9. 8Device and Documentation Support
    1. 8.1 Documentation Support (Analog)
      1. 8.1.1 Related Documentation
    2. 8.2 接收文档更新通知
    3. 8.3 支持资源
    4. 8.4 Trademarks
    5. 8.5 静电放电警告
    6. 8.6 术语表
  10. 9Mechanical, Packaging, and Orderable Information

封装选项

请参考 PDF 数据表获取器件具体的封装图。

机械数据 (封装 | 引脚)
  • PW|14
散热焊盘机械数据 (封装 | 引脚)
订购信息

静电放电警告

GUID-D6F43A01-4379-4BA1-8019-E75693455CED-low.gif 静电放电 (ESD) 会损坏这个集成电路。德州仪器 (TI) 建议通过适当的预防措施处理所有集成电路。如果不遵守正确的处理和安装程序,可能会损坏集成电路。
ESD 的损坏小至导致微小的性能降级,大至整个器件故障。精密的集成电路可能更容易受到损坏,这是因为非常细微的参数更改都可能会导致器件与其发布的规格不相符。