ZHDS509D July   2003  – October 2026 SN74CB3Q3245

PRODUCTION DATA  

  1.   1
  2. 1特性
  3. 2说明
  4. 3引脚配置和功能
  5. 4规格
    1. 4.1 绝对最大额定值
    2. 4.2 ESD 等级
    3. 4.3 建议运行条件
    4. 4.4 热性能信息
    5. 4.5 电气特性
    6. 4.6 开关特性
    7. 4.7 典型特性
  6. 5参数测量信息
  7. 6器件和文档支持
    1. 6.1 接收文档更新通知
    2. 6.2 支持资源
    3. 6.3 商标
    4. 6.4 静电放电警告
    5. 6.5 术语表
  8. 7修订历史记录
  9. 8机械、封装和可订购信息

封装选项

机械数据 (封装 | 引脚)
散热焊盘机械数据 (封装 | 引脚)
订购信息

1 特性

  • 高带宽数据路径
    （高达 500MHz）
  • 等效于 IDTQS3VH384 器件
  • 可耐受 5V 电压并支持器件上电或断电的 I/O
  • 在整个工作范围内具有低且平坦的导通电阻 (ron) 特性
    （ron 典型值 = 4Ω）
  • 支持在数据 I/O 端口进行轨到轨开关
    • 3.3V VCC 时，开关范围为 0 至 5V
    • 2.5V VCC 时，开关范围为 0 至 3.3V
  • 具有接近零传播延迟的双向数据流
  • 低输入/输出电容可更大程度减小负载和信号失真
    （Cio(OFF) 典型值 = 3.5pF）
  • 快速开关频率（fOE 最大值 = 20MHz）
  • 数据与控制输入提供下冲钳位二极管
  • 低功耗（ICC 典型值 = 1mA）
  • VCC 工作范围为 2.3V 至 3.6V
  • 数据 I/O 支持 0 至 5V 信号电平（0.8V、1.2V、1.5V、1.8V、2.5V、3.3V 和 5V）
  • 控制输入可由 TTL 或 5V/3.3V CMOS 输出驱动
  • Ioff 支持局部断电模式运行
  • 闩锁性能超过 100mA，
    符合 JESD 78 II 类规范的要求
  • ESD 性能测试符合 JESD 22 标准
    • 2000V 人体放电模型
      （A114B，II 类）
    • 1000V 充电器件模型 (C101)
  • 支持数字和模拟应用：PCI 接口、差分信号接口、存储器交错、总线隔离、低失真信号门控