ZHCSD25 October   2014 LP3990-Q1

PRODUCTION DATA.  

  1. 1 特性
  2. 2 应用
  3. 3 说明
  4. 4 修订历史记录
  5. 5 Pin Configuration and Functions
  6. 6 Specifications
    1. 6.1 Absolute Maximum Ratings
    2. 6.2 Handling Ratings
    3. 6.3 Recommended Operating Conditions
    4. 6.4 Thermal Information
    5. 6.5 Electrical Characteristics
    6. 6.6 Output Capacitor, Recommended Specifications
    7. 6.7 Timing Requirements
    8. 6.8 Typical Performance Characteristics
  7. 7 Detailed Description
    1. 7.1 Overview
    2. 7.2 Functional Block Diagram
    3. 7.3 Feature Description
      1. 7.3.1 Enable (EN)
      2. 7.3.2 Thermal Overload Protection (TSD)
    4. 7.4 Device Functional Modes
      1. 7.4.1 Enable (EN)
      2. 7.4.2 Minimum Operating Input Voltage (VIN)
  8. 8 Application and Implementation
    1. 8.1 Application Information
    2. 8.2 Typical Application
      1. 8.2.1 Design Requirements
      2. 8.2.2 Detailed Design Procedure
        1. 8.2.2.1 Power Dissipation and Device Operation
        2. 8.2.2.2 External Capacitors
        3. 8.2.2.3 Input Capacitor
        4. 8.2.2.4 Output Capacitor
        5. 8.2.2.5 No-Load Stability
        6. 8.2.2.6 Capacitor Characteristics
        7. 8.2.2.7 Enable Control
      3. 8.2.3 Application Curves
  9. 9 Power Supply Recommendations
  10. 10Layout
    1. 10.1 Layout Guidelines
    2. 10.2 Layout Example
    3. 10.3 DSBGA Mounting
    4. 10.4 DSBGA Light Sensitivity
  11. 11器件和文档支持
    1. 11.1 文档支持
      1. 11.1.1 相关文档　
    2. 11.2 商标
    3. 11.3 静电放电警告
    4. 11.4 术语表
  12. 12机械封装和可订购信息

封装选项

机械数据 (封装 | 引脚)
散热焊盘机械数据 (封装 | 引脚)
订购信息

11 器件和文档支持

11.1 文档支持

11.1.1 相关文档　

相关文档如下：

  • TI 应用手册《DSBGA 晶圆级芯片规模封装》（文献编号：SNVA009）。

11.2 商标

All other trademarks are the property of their respective owners.

11.3 静电放电警告

esds-image

ESD 可能会损坏该集成电路。德州仪器 (TI) 建议通过适当的预防措施处理所有集成电路。如果不遵守正确的处理措施和安装程序 , 可能会损坏集成电路。

ESD 的损坏小至导致微小的性能降级 , 大至整个器件故障。 精密的集成电路可能更容易受到损坏 , 这是因为非常细微的参数更改都可能会导致器件与其发布的规格不相符。

11.4 术语表

SLYZ022 — TI 术语表。

这份术语表列出并解释术语、首字母缩略词和定义。