处理器基准测试

在判断处理器的性能时,基准测试是一个有用的工具。此处的页面和链接介绍了来自 TI 的优化库和独立基准测试结果的基准测试数据抽样。

我们将 TI 基准测试分为两个主要类别:

  • 内核基准测试 – 仅专注于单核类型的性能。
  • 器件基准测试 – 器件级别的基准测试。这些基准测试可能会在测量中包含多个内核、内存、数据移动和高速缓存效果。

独立基准测试

数据使用的重要限制

TI 提供此数据是为您方便起见。但是,我们明确声明:此数据的用途有着显著局限性,不能将其用作器件在各种应用中的实施指标。

本网站上提供的处理器基准测试在比较不同的处理器方面可能很有用,但这些基准测试并未传达处理器性能的所有相关信息。TI 发布的内核基准测试和器件基准测试是使用特定的硬件和软件配置在特定的系统上测量的。实际的处理器性能可能有很大的差异,具体取决于系统以及硬件和软件配置。使用此数据以及由于使用此数据而产生的所有后果完全由您本人承担。您必须实施足够的工程和附加资质认证测试,以便于正确评估您的应用并确定候选器件对该应用领域的适用性。

此数据“按原样”提供,不包含任何明示或暗示保证,包括商用性、不侵犯知识产权或适用于任何特定用途的暗示保证。任何情况下,TI 或其供应商对由于使用该信息或无法使用该信息而造成的任何伤害(包括但不限于利润损失、业务中断和信息丢失等)不承担任何责任,即使 TI 已被告知该伤害存在的可能性。

TI 半导体组件是专门针对 TI 产品数据表中列出的电气、热量、机械以及其他参数而设计和制造的。TI 提供的性能数据(包括内核基准测试、器件基准测试和 BDTI 基准测试)只是基于历史的产品性能评估。如果未按照器件的最新发布数据表中明确列出的条件使用该产品,则不能保证达到此数据应提供的性能水平。此外,任何预测的准确性受到 TI 控制或知识范围之外的众多因素的制约,因此用户应根据其他适用的因素谨慎评估预测值。