ZHCSG29G March   2017  – August 2021 ISOW7840 , ISOW7841 , ISOW7842 , ISOW7843 , ISOW7844

PRODUCTION DATA  

  1. 特性
  2. 应用
  3. 说明
  4. 修订历史记录
  5. 说明(续)
  6. 引脚配置和功能
    1.     引脚功能
  7. 规格
    1. 7.1  绝对最大额定值
    2. 7.2  ESD 等级
    3. 7.3  建议运行条件
    4. 7.4  热性能信息
    5. 7.5  额定功率
    6. 7.6  绝缘规格
    7. 7.7  安全相关认证
    8. 7.8  安全限值
    9. 7.9  电气特性 - 5V 输入、5V 输出
    10. 7.10 电源电流特性 - 5V 输入,5V 输出
    11. 7.11 电气特性 - 3.3V 输入、5V 输出
    12. 7.12 电源电流特性 - 3.3V 输入,5V 输出
    13. 7.13 电气特性 - 5V 输入、3.3V 输出
    14. 7.14 电源电流特性 - 5V 输入,3.3V 输出
    15. 7.15 电气特性 - 3.3V 输入、3.3V 输出
    16. 7.16 电源电流特性 - 3.3V 输入,3.3V 输出
    17. 7.17 开关特性 - 5V 输入,5V 输出
    18. 7.18 开关特性 - 3.3V 输入,5V 输出
    19. 7.19 开关特性 - 5V 输入,3.3V 输出
    20. 7.20 开关特性 - 3.3V 输入,3.3V 输出
    21. 7.21 绝缘特性曲线
    22. 7.22 典型特性
  8. 参数测量信息
  9. 详细说明
    1. 9.1 概述
    2. 9.2 功能方框图
    3. 9.3 特性说明
      1. 9.3.1 电磁兼容性 (EMC) 注意事项
      2. 9.3.2 上电和断电行为
      3. 9.3.3 电流限制、热过载保护
    4. 9.4 器件功能模式
      1. 9.4.1 器件 I/O 原理图
  10. 10应用和实现
    1. 10.1 应用信息
    2. 10.2 典型应用
      1. 10.2.1 设计要求
      2. 10.2.2 详细设计过程
      3. 10.2.3 应用曲线
        1. 10.2.3.1 绝缘寿命
  11. 11电源相关建议
  12. 12布局
    1. 12.1 布局指南
      1. 12.1.1 PCB 材料
    2. 12.2 布局示例
  13. 13器件和文档支持
    1. 13.1 器件支持
      1. 13.1.1 开发支持
    2. 13.2 文档支持
      1. 13.2.1 相关文档
    3. 13.3 相关链接
    4. 13.4 接收文档更新通知
    5. 13.5 支持资源
    6. 13.6 商标
    7. 13.7 Electrostatic Discharge Caution
    8. 13.8 术语表
  14. 14机械、封装和可订购信息

封装选项

机械数据 (封装 | 引脚)
散热焊盘机械数据 (封装 | 引脚)
订购信息

绝缘寿命

绝缘寿命预测数据是使用业界通用的时间依赖性电介质击穿 (TDDB) 测试方法收集的。在该测试中,隔离栅两侧的所有引脚都连在一起,构成了一个双端子器件并在两侧之间施加高电压;对于 TDDB 测试设置,请参阅图 10-4。绝缘击穿数据是在开关频率为 60 Hz 以及各种高电压条件下在整个温度范围内收集的。对于增强型绝缘,VDE 标准要求使用故障率小于 1 ppm 的 TDDB 预测线。尽管额定工作隔离电压条件下的预期最短绝缘寿命为 20 年,但是 VDE 增强认证要求工作电压具有额外 20% 的安全裕度,寿命具有额外 87.5% 的安全裕度,也就是说在工作电压高于额定值 20% 的条件下,所需的最短绝缘寿命为 37.5 年。

图 10-5 展示了隔离栅在整个寿命期内承受高压应力的固有能力。根据 TDDB 数据,固有绝缘能力为 1000VRMS,寿命为 1184 年。

GUID-10B70A5D-5BD1-41CE-BC33-46C923D478D2-low.gif图 10-4 绝缘寿命测量的测试设置
GUID-32A7E2BF-4A60-4CBC-A7C1-FFDA506748E1-low.png图 10-5 绝缘寿命预测数据