ZHCSTF1 November   2023 AFE432A3W , AFE532A3W

PRODUCTION DATA  

  1.   1
  2. 特性
  3. 应用
  4. 说明
  5. 引脚配置和功能
  6. 规格
    1. 5.1  绝对最大额定值
    2. 5.2  ESD 等级
    3. 5.3  建议运行条件
    4. 5.4  热性能信息
    5. 5.5  电气特性:电压输出
    6. 5.6  电气特性:电流输出
    7. 5.7  电气特性:比较器模式
    8. 5.8  电气特性:ADC 输入
    9. 5.9  电气特性:通用
    10. 5.10 时序要求:I2C 标准模式
    11. 5.11 时序要求:I2C 快速模式
    12. 5.12 时序要求:I2C 超快速模式
    13. 5.13 时序要求:SPI 写入操作
    14. 5.14 时序要求:SPI 读取和菊花链操作 (FSDO = 0)
    15. 5.15 时序要求:SPI 读取和菊花链操作 (FSDO = 1)
    16. 5.16 时序要求:GPIO
    17. 5.17 时序图
    18. 5.18 典型特性:电压输出
    19. 5.19 典型特性:电流输出
    20. 5.20 典型特性:比较器
    21. 5.21 典型特性:ADC
    22. 5.22 典型特性:通用
  7. 详细说明
    1. 6.1 概述
    2. 6.2 功能方框图
    3. 6.3 特性说明
      1. 6.3.1 智能模拟前端 (AFE) 架构
      2. 6.3.2 数字输入/输出
      3. 6.3.3 非易失性存储器 (NVM)
    4. 6.4 器件功能模式
      1. 6.4.1 电压输出模式
        1. 6.4.1.1 电压基准和 DAC 传递函数
          1. 6.4.1.1.1 内部基准
          2. 6.4.1.1.2 电源作为基准
      2. 6.4.2 电流输出模式
      3. 6.4.3 比较器模式
        1. 6.4.3.1 可编程迟滞比较器
        2. 6.4.3.2 可编程窗口比较器
      4. 6.4.4 模数转换器 (ADC) 模式
      5. 6.4.5 故障转储模式
      6. 6.4.6 应用特定模式
        1. 6.4.6.1 电压裕量和调节
          1. 6.4.6.1.1 高阻抗输出和 PROTECT 输入
          2. 6.4.6.1.2 可编程压摆率控制
        2. 6.4.6.2 函数生成
          1. 6.4.6.2.1 三角波形生成
          2. 6.4.6.2.2 锯齿波形生成
          3. 6.4.6.2.3 正弦波形生成
      7. 6.4.7 器件复位和故障管理
        1. 6.4.7.1 上电复位 (POR)
        2. 6.4.7.2 外部复位
        3. 6.4.7.3 寄存器映射锁定
        4. 6.4.7.4 NVM 循环冗余校验 (CRC)
          1. 6.4.7.4.1 NVM-CRC-FAIL-USER 位
          2. 6.4.7.4.2 NVM-CRC-FAIL-INT 位
      8. 6.4.8 通用输入/输出 (GPIO) 模式
    5. 6.5 编程
      1. 6.5.1 SPI 编程模式
      2. 6.5.2 I2C 编程模式
        1. 6.5.2.1 F/S 模式协议
        2. 6.5.2.2 I2C 更新序列
          1. 6.5.2.2.1 地址字节
          2. 6.5.2.2.2 命令字节
        3. 6.5.2.3 I2C 读取序列
  8. 寄存器映射
    1. 7.1  NOP 寄存器(地址 = 00h)[复位 = 0000h]
    2. 7.2  DAC-0-MARGIN-HIGH 寄存器(地址 = 0Dh)[复位 = 0000h]
    3. 7.3  DAC-1-MARGIN-HIGH 寄存器(地址 = 13h)[复位 = 0000h]
    4. 7.4  DAC-2-MARGIN-HIGH 寄存器(地址 = 01h)[复位 = 0000h]
    5. 7.5  DAC-0-MARGIN-LOW 寄存器(地址 = 0Eh)[复位 = 0000h]
    6. 7.6  DAC-1-MARGIN-LOW 寄存器(地址 = 14h)[复位 = 0000h]
    7. 7.7  DAC-2-MARGIN-LOW 寄存器(地址 = 02h)[复位 = 0000h]
    8. 7.8  DAC-0-GAIN-CONFIG 寄存器(地址 = 0Fh)[复位 = 0000h]
    9. 7.9  DAC-1-GAIN-CMP-CONFIG 寄存器(地址 = 15h)[复位 = 0000h]
    10. 7.10 DAC-2-GAIN-CONFIG 寄存器(地址 = 03h)[复位 = 0000h]
    11. 7.11 DAC-1-CMP-MODE-CONFIG 寄存器(地址 = 17h)[复位 = 0000h]
    12. 7.12 DAC-0-FUNC-CONFIG 寄存器(地址 = 12h)[复位 = 0000h]
    13. 7.13 DAC-1-FUNC-CONFIG 寄存器(地址 = 18h)[复位 = 0000h]
    14. 7.14 DAC-2-FUNC-CONFIG 寄存器(地址 = 06h)[复位 = 0000h]
    15. 7.15 DAC-0-DATA 寄存器(地址 = 1Bh)[复位 = 0000h]
    16. 7.16 DAC-1-DATA 寄存器(地址 = 1Ch)[复位 = 0000h]
    17. 7.17 DAC-2-DATA 寄存器(地址 = 19h)[复位 = 0000h]
    18. 7.18 ADC-CONFIG-TRIG 寄存器(地址 = 1Dh)[复位 = 0000h]
    19. 7.19 ADC-DATA 寄存器(地址 = 1Eh)[复位 = 0001h]
    20. 7.20 COMMON-CONFIG 寄存器(地址 = 1Fh)[复位 = 0FFFh]
    21. 7.21 COMMON-TRIGGER 寄存器(地址 = 20h)[复位 = 0000h]
    22. 7.22 COMMON-DAC-TRIG 寄存器(地址 = 21h)[复位 = 0000h]
    23. 7.23 GENERAL-STATUS 寄存器(地址 = 22h)[复位 = 20h、DEVICE-ID、VERSION-ID]
    24. 7.24 CMP-STATUS 寄存器(地址 = 23h)[复位 = 000Ch]
    25. 7.25 GPIO-CONFIG 寄存器(地址 = 24h)[复位 = 0000h]
    26. 7.26 DEVICE-MODE-CONFIG 寄存器(地址 = 25h)[复位 = 0000h]
    27. 7.27 INTERFACE-CONFIG 寄存器(地址 = 26h)[复位 = 0000h]
    28. 7.28 SRAM-CONFIG 寄存器(地址 = 2Bh)[复位 = 0000h]
    29. 7.29 SRAM-DATA 寄存器(地址 = 2Ch)[复位 = 0000h]
    30. 7.30 BRDCAST-DATA 寄存器(地址 = 50h)[复位 = 0000h]
  9. 应用和实施
    1. 8.1 应用信息
    2. 8.2 典型应用
      1. 8.2.1 设计要求
      2. 8.2.2 详细设计过程
      3. 8.2.3 应用曲线
    3. 8.3 电源相关建议
    4. 8.4 布局
      1. 8.4.1 布局指南
      2. 8.4.2 布局示例
  10. 器件和文档支持
    1. 9.1 文档支持
      1. 9.1.1 相关文档
    2. 9.2 接收文档更新通知
    3. 9.3 支持资源
    4. 9.4 商标
    5. 9.5 静电放电警告
    6. 9.6 术语表
  11. 10修订历史记录
  12. 11机械、封装和可订购信息

封装选项

机械数据 (封装 | 引脚)
散热焊盘机械数据 (封装 | 引脚)
订购信息

故障转储模式

AFEx32A3W 提供了一项功能,可在 FAULT-DUMP 位触发时或映射到故障转储的 GPIO 触发时(另请参阅表 6-9)将几个寄存器内容保存到 NVM 中。此功能在系统级故障管理中非常有用,可用于捕获就在故障触发之前的器件或系统状态,以便在故障发生后进行诊断。故障转储触发时保存的寄存器为:

  • CMP-STATUS[7:0]
  • DAC-0-DATA[15:8]
  • DAC-1-DATA[15:8]
  • DAC-2-DATA[15:8]
  • ADC-DATA [15:0]
注: 在故障转储期间,数据中的任何更改都会破坏最终结果。确保比较器和 DAC 代码在 NVM 写入周期期间保持稳定。
表 6-4 展示了 NVM 中寄存器的存储格式。

表 6-4 故障转储 NVM 存储格式
NVM 行 B31-B24 B23-B16 B15-B8 B7-B0
行 1 CMP-STATUS[7:0] ADC-DATA[15:0] 不用考虑
行 2 DAC-2-DATA[15:8] 不用考虑 DAC-0-DATA[15:8] DAC-1-DATA[15:8]

故障转储后在 NVM 中捕获的数据可按特定顺序读取:

  1. 将 COMMON-CONFIG 寄存器中的 EE-READ-ADDR 位设置为 0b,以选择 NVM 的行 1。
  2. 通过向 COMMON-TRIGGER 寄存器中的 READ-ONE-TRIG 写入 1 来触发所选 NVM 行的读取;该位会自动复位。此操作会将数据从选定的 NVM 行复制到 SRAM 地址 0x9D(LSB 16 位来自 NVM)和 0x9E(MSB 16 位来自 NVM)。
  3. 要读取 SRAM 数据,需按照以下步骤操作:
    1. 将 0x009D 写入 SRAM-CONFIG 寄存器。
    2. 从 SRAM-DATA 寄存器中读取数据以获得 LSB 16 位。
    3. 将 0x009E 写入 SRAM-CONFIG 寄存器。
    4. 再次从 SRAM-DATA 寄存器读取数据以获得 MSB 位。
  4. 将 COMMON-CONFIG 寄存器中的 EE-READ-ADDR 位设置为 1b,以选择 NVM 的行 2。重复步骤 2 和 3。