适用于测试和测量应用的 LVDS 上的 SPI
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2025 年 2 月 5 日
| 此视频介绍了适用于测试和测量应用的 LVDS 上的 SPI 设计。SPI 是测试和测量应用中处理器与外设器件之间常用的数据通信方法。LVDS 接口具有高防噪性能和降低 EMI 的功能，并且可以在 PCB 之间发送 SPI 信号。在此视频中，我们介绍了基于 LVDS 发送 SPI 的不同选项、估计的额外 PCB 面积以及解决往返延迟问题的方法。 |