测量系统稳定性
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2025 年 1 月 28 日
这是讲述运算放大器稳定性的“TI 高精度实验室 – 运算放大器”课程七个视频中的第四个。在前面的培训中，我们重点介绍了电路的相位裕度和接近率以及如何使用 SPICE 测量它们。
本视频将阐述如何通过时域和交流频域测量方法在 SPICE 中和工作台中执行间接相位裕度测量。
资源
此视频是该系列的一部分
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高精度实验室系列：运放
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