测量系统稳定性

这是讲述运算放大器稳定性的“TI 高精度实验室 – 运算放大器”课程七个视频中的第四个。在前面的培训中，我们重点介绍了电路的相位裕度和接近率以及如何使用 SPICE 测量它们。 

本视频将阐述如何通过时域和交流频域测量方法在 SPICE 中和工作台中执行间接相位裕度测量。