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航天与国防 – 技术文档

电子产品辐射手册

我们的《电子产品辐射手册》可针对辐射对电子产品的影响为您提供全面的指导。这本 100 多页的电子书以 TI 专家团队几十年来的知识积累为基础编写而成,面向航空、工业和/或地面应用领域的工程师们提供了最新的设计注意事项。无论您的设计经验如何,您都将了解到以下内容:

  • 关于各种辐射环境、这些环境对 IC 器件 的影响,以及如何缓解这些影响的信息
  • 辐射鉴定所需的测试、流程和要求
  • 采用德州仪器 (TI) 航空级集成电路产品系列的优势 

仍在犹豫是否适合您?立即预览 辐射手册 。

Radiation Handbook for Electronics

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关于作者

Robert Baumann, TI Fellow(荣誉称号)、首席技术专家

Robert 发现 10B 低能宇宙中子在特定 IC 层的反应会导致极大的可靠性风险,继而研发了缓解机制,该机制能直接将产品的失效率减少到原来的十分之一。他在业内推动了辐射影响方面的数个重大突破,曾负责国际标准开发和修订美国出口控制法律,在加入 TI 的 29 年中,他成为了 TI Dallas 和 TI Japan 集团的技术领导者。Robert 曾荣获 TI Fellow 和 IEEE Fellow 荣誉称号,与他人合著/个人发表过 >  90 篇论文、两个书本章节,并获得过十五项美国专利。2018 年,Robert 从 TI 退休。

Robert Baumann

Kirby Kruckmeyer,高级技术人员

Kirby 在美国国家半导体/德州仪器 (TI) 工作了将近 40 个春秋,在众多半导体技术学科领域均拥有丰富经验,这使得他成为了辐射对电子产品影响方面的专家。 他参与并做出贡献的项目包括晶圆处理、半导体物理、防辐射处理、免 ELDRS 处理、通过设计防辐射以及创新的辐射测试技术。

Kirby kruckmeyer

其它支持文献

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应用手册

显示 3 / 79 结果     查看全部 79 结果   

标题
类型
尺寸 (KB)
日期
Failure Containment in Spacecraft Point-of-Load Power Supplies PDF 334 30 Apr 2020
High Reliability Part Numbering System PDF 326 28 Oct 2019
Keystone Error Detection and Correction EDC ECC PDF 72 12 Aug 2019

选择指南

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标题
类型
尺寸 (KB)
日期
Enhanced Products Guide PDF 531 11 Oct 2019
TI Space Products PDF 5596 15 May 2019
HiRel 宇航产品应用指南 PDF 2849 26 Apr 2010

辐射与可靠性报告

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标题
类型
尺寸 (KB)
日期
LM239A-EP quad differential comparator reliability report PDF 587 20 Apr 2020
Single-Event Effects Test Report for TMP461-SP High-Accuracy Remote and Local PDF 3128 12 Feb 2020
SN74LVC1G04MDBVREP Reliability Report PDF 89 28 Jan 2020