TI 高精度实验室研讨会

简介及工具、新器件分享

概述 TI 品类丰富的放大器产品系列、选型与分析工具及新器件信息。

放大器基础知识和规格

本节课程将深入讲解如何预测 Vos、Ib 和温度漂移引起的误差，并剖析这些误差源的内在成因。此外，我们还将概述瞬态响应，并回顾 Iq、压摆率和带宽等概念，以及讨论数据表参数规格。

先进的放大器技术

本节课程将概要介绍 CMOS、双极和 JFET 放大器之间的差异。还将引入零交越失真和零漂移等现代放大器的改进技术，并讨论基本工艺差异对放大器性能的影响。

输入电压噪声、输入电流噪声和滤波技术

放大器和电阻器噪声可通过计算和仿真预测。本节课程将明确界定噪声增益、噪声带宽、电流与电压噪声频谱密度以及总 RMS 噪声等概念。此外，我们还将介绍闪烁噪声与宽带噪声的原理，并比较实际测量值与计算值。

电路稳定性分析和补偿方案

驱动容性负载或运算放大器的反相节点上具有过大电容可能会导致振荡。本节课程将展示如何使用仿真预测放大器稳定性，并讨论了解决该问题的方法。 

比较器应用

本节课程将概要介绍比较器的基本操作， 主题包括比较器参数规格说明，比较器的不同类型和选型以及常见的客户应用问题。