TI 高精度实验室研讨会

放大器基础知识和规格

本课程将深入讲解如何预测 Vos、Ib 和温度漂移引起的误差，并剖析这些误差源的内在成因。概述动态行为，并回顾 Iq、压摆率和带宽等概念。讨论数据表参数规格。 

先进的放大器技术

概要介绍 CMOS、双极和 JFET 放大器之间的差异。引入零交叉和零漂移等现代放大器技术改进。讨论基本工艺差异对放大器性能的影响。

输入电压噪声、输入电流噪声和滤波技术 

通过计算和仿真预测放大器和电阻器噪声。明确界定噪声增益、噪声带宽、电流与电压噪声频谱密度以及总 RMS 噪声等概念。讲解闪烁噪声与宽带噪声的原理。比较实际测量值与计算值。 

电路稳定性分析和补偿方案 

驱动容性负载或运算放大器的反相节点上具有过大电容可能会导致振荡。本演示展示了如何使用仿真预测放大器稳定性，并讨论了纠正该问题的方法。 

比较器应用

概要介绍比较器的基本操作。 主题包括比较器特定规格说明、比较器的不同类型和选项以及常见的客户应用问题。