源测量单元 (SMU)
产品和参考设计
源测量单元 (SMU)
概述
Our integrated circuits and reference designs help to create high precision source measurement units (SMU) for accurate testing and characterization of semiconductors or other devices.
设计要求
New generation source measurement units require:
- High voltage, current source and measurement capabilities.
- High accuracy force and measurement capabilities with wide dynamic range.
- Intuitive interface to adjust parameters and monitor agent usage.
- Pulse mode support to eliminate device self-heating.
方框图
查找适用于您系统的产品和参考设计
技术文档
未找到结果。请清除搜索，并重试。
| 类型 | 标题 | 下载最新的英文版本 | 日期 | |||
|---|---|---|---|---|---|---|
| 技术文章 | Powering up the performance of sensitive test and measurement systems | 2017年 10月 17日 | ||||
| 技术文章 | Why is it so challenging to design a voltage reference circuit for an ADC? | 2016年 9月 16日 | ||||
| 技术文章 | How to filter out noise in your DC/DC design | 2015年 8月 18日 | ||||
| 技术文章 | Part 1 - Avoid common missteps with the common mode | 2014年 8月 13日 |