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内存和半导体测试设备

特殊应用 - 半导体测试设备

设计注意事项

我们的集成电路和参考设计可帮助您在晶圆、封装和板级创建高精度半导体测试设计，从而提供密集型解决方案以实现高通道数，同时更大限度减少通道间差异。

新一代半导体测试设计通常需要：

通过数据采集通道实现更高的速度和准确性。
严格的温度控制，从而更大限度地减少测量误差。
生成精确的基准电压，从而提高测量精度。
低抖动时钟分配，从而更大限度地提高信噪比 (SNR) 性能。
高度集成的薄型电源模块，从而更大限度地减少布板间距。

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技术文档

应用手册和用户指南

应用手册 (11)

标题	类型	大小 (KB)	日期	下载最新英文版本
支持多路复用器的精密运算放大器 (Rev. B)	PDF	773 KB	2021年 6月 10日	下载英文版本 (Rev.B)
零漂移放大器：特性和优势 (Rev. C)	PDF	649 KB	2021年 5月 25日	下载英文版本 (Rev.C)
适用于射频采样模数转换器的时钟优化 (Rev. A)	PDF	880 KB	2021年 5月 3日	下载英文版本 (Rev.A)
失调电压校正方法：激光修整、e-Trim 和斩波器 (Rev. C)	PDF	1.11 MB	2021年 4月 13日
如何为半导体测试仪选择精密放大器 (Rev. A)	PDF	603 KB	2021年 3月 31日	下载英文版本 (Rev.A)
失调电压校正方法：激光修整、e-Trim 和斩波器 (Rev. A)	PDF	960 KB	2019年 6月 25日	下载最新的英文版本 (Rev.C)
Improving Resolution of SAR ADC	PDF	78 KB	2017年 6月 14日
System Level Protection for High Voltage Analog Multiplexers	PDF	177 KB	2017年 1月 3日
Principles of Data Acquisition and Conversion (Rev. A)	PDF	132 KB	2015年 4月 16日
Driving High Speed A/D Converters (Rev. A)	PDF	327 KB	2010年 9月 10日
高速数据采集系统的全差动放大器设计	PDF	285 KB	2005年 2月 28日

产品公告和白皮书

白皮书 (3)

标题	类型	大小 (MB)	日期	下载最新英文版本
考虑 Δ-Σ ADC 中多个源的延迟 (Rev. A)	PDF	1.07 MB	2021年 3月 15日	下载英文版本 (Rev.A)
Voltage-reference impact on total harmonic distortion	PDF	3.07 MB	2016年 8月 1日
Minimum Power Specifications for High-Performance ADC Power-Supply Designs	PDF	2.13 MB	2016年 3月 31日

技术文章

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