半导体制造

Test and measurement semiconductor manufacturing integrated circuits and reference designs

我们的集成电路和参考设计有助于创建高精度半导体制造设备，从而实现精确的过程和质量控制。

新一代半导体制造设备需要：

标题	类型	大小 (KB)	日期
	PDF	697 KB	07 Apr 2021
	PDF	2.75 MB	30 Sep 2020
66AK2L06 JESD Attach to ADC12J4000/DAC38J84 Getting Started Guide (Rev. B)	PDF	8.6 MB	20 Jun 2016
Principles of Data Acquisition and Conversion (Rev. A)	PDF	132 KB	16 Apr 2015

标题	类型	大小 (MB)	日期
	PDF	688 KB	01 Feb 2018
Voltage-reference impact on total harmonic distortion	PDF	3.07 MB	01 Aug 2016
Minimum Power Specifications for High-Performance ADC Power-Supply Designs	PDF	2.13 MB	31 Mar 2016

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