LCD 测试

LCD 测试设备

设计注意事项

我们的集成电路和参考设计可帮助您创建高密度、高性能、多通道液晶显示器 (LCD) 测试设备,从而更大程度地减少由于基准电压加载、时钟和功率导致的通道间变化。

    新一代 LCD 测试设备通常需要:

  • 同步、高精度、高电压、多通道测量能力。
  • 在测量时尽量减少通道间变化。
  • 适用于短路棒测试的高电流驱动精密电压生成。
  • 高度集成、高效和较少外机接口 (EMI) 的电源架构。
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技术文档

应用手册和用户指南

应用手册 (4)

标题 类型 大小 (KB) 日期 下载最新英文版本
PDF 649 KB 2021年 5月 25日 下载英文版本 (Rev.C)
PDF 78 KB 2017年 6月 14日
PDF 867 KB 2016年 9月 19日
PDF 132 KB 2015年 4月 16日

产品公告和白皮书

白皮书 (1)

标题 类型 大小 (MB) 日期 下载最新英文版本
PDF 1.2 MB 2018年 10月 23日

技术文章

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