產品詳細資料

Technology family LVC Supply voltage (min) (V) 1.65 Supply voltage (max) (V) 5.5 Number of channels 1 IOL (max) (mA) 32 IOH (max) (mA) -32 Supply current (max) (µA) 10 Input type Standard CMOS Output type Push-Pull Features Balanced outputs, Over-voltage tolerant inputs, Partial power down (Ioff), Very high speed (tpd 5-10ns) Rating Automotive Operating temperature range (°C) -40 to 125
Technology family LVC Supply voltage (min) (V) 1.65 Supply voltage (max) (V) 5.5 Number of channels 1 IOL (max) (mA) 32 IOH (max) (mA) -32 Supply current (max) (µA) 10 Input type Standard CMOS Output type Push-Pull Features Balanced outputs, Over-voltage tolerant inputs, Partial power down (Ioff), Very high speed (tpd 5-10ns) Rating Automotive Operating temperature range (°C) -40 to 125
SOT-23 (DBV) 5 8.12 mm² 2.9 x 2.8 SOT-SC70 (DCK) 5 4.2 mm² 2 x 2.1
  • Qualified for automotive applications
  • AEC-Q100 qualified with the following results:
    • Device temperature grade 1: –40°C to 125°C ambient operating temperature range
    • Device HBM ESD classification level H2
    • Device CDM ESG classification level C4B
  • ESD protection exceeds 2000V per MIL-STD-883, method 3015; exceeds 200V using machine model (C = 200pF, R = 0)
  • Supports 5V VCC operation
  • Inputs accept voltages to 5.5V
  • Maximum tpd of 3.3ns at 3.3V
  • Low power consumption, 10µA maximum ICC
  • ±24mA output drive at 3.3V
  • Ioff supports partial-power-down mode operation
  • Latch-up performance exceeds 100mA per JESD 78, Class II
  • Qualified for automotive applications
  • AEC-Q100 qualified with the following results:
    • Device temperature grade 1: –40°C to 125°C ambient operating temperature range
    • Device HBM ESD classification level H2
    • Device CDM ESG classification level C4B
  • ESD protection exceeds 2000V per MIL-STD-883, method 3015; exceeds 200V using machine model (C = 200pF, R = 0)
  • Supports 5V VCC operation
  • Inputs accept voltages to 5.5V
  • Maximum tpd of 3.3ns at 3.3V
  • Low power consumption, 10µA maximum ICC
  • ±24mA output drive at 3.3V
  • Ioff supports partial-power-down mode operation
  • Latch-up performance exceeds 100mA per JESD 78, Class II

This single inverter gate is designed for 1.65V to 5.5V VCC operation.

The SN74LVC1G04-Q1 performs the Boolean function Y = A.

This device is fully specified for partial-power-down applications using Ioff. The Ioff circuitry disables the outputs, preventing damaging current backflow through the device when the device is powered down.

This single inverter gate is designed for 1.65V to 5.5V VCC operation.

The SN74LVC1G04-Q1 performs the Boolean function Y = A.

This device is fully specified for partial-power-down applications using Ioff. The Ioff circuitry disables the outputs, preventing damaging current backflow through the device when the device is powered down.

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類型 標題 日期
* Data sheet SN74LVC1G04-Q1 Single Inverter Gate datasheet (Rev. F) PDF | HTML 2025年 10月 28日
Application note Implications of Slow or Floating CMOS Inputs (Rev. E) 2021年 7月 26日
Functional safety information SN74LVC1G04-Q1 Functional Safety FIT Rate and Failure Mode Distribution 2019年 12月 30日
Selection guide Little Logic Guide 2018 (Rev. G) 2018年 7月 6日
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Application note Understanding and Interpreting Standard-Logic Data Sheets (Rev. C) 2015年 12月 2日
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User guide LOGIC Pocket Data Book (Rev. B) 2007年 1月 16日
Product overview Design Summary for WCSP Little Logic (Rev. B) 2004年 11月 4日
Application note Semiconductor Packing Material Electrostatic Discharge (ESD) Protection 2004年 7月 8日
Application note Selecting the Right Level Translation Solution (Rev. A) 2004年 6月 22日
User guide Signal Switch Data Book (Rev. A) 2003年 11月 14日
Application note Use of the CMOS Unbuffered Inverter in Oscillator Circuits 2003年 11月 6日
User guide LVC and LV Low-Voltage CMOS Logic Data Book (Rev. B) 2002年 12月 18日
Application note Texas Instruments Little Logic Application Report 2002年 11月 1日
Application note TI IBIS File Creation, Validation, and Distribution Processes 2002年 8月 29日
More literature Standard Linear & Logic for PCs, Servers & Motherboards 2002年 6月 13日
Application note 16-Bit Widebus Logic Families in 56-Ball, 0.65-mm Pitch Very Thin Fine-Pitch BGA (Rev. B) 2002年 5月 22日
Application note Power-Up 3-State (PU3S) Circuits in TI Standard Logic Devices 2002年 5月 10日
More literature STANDARD LINEAR AND LOGIC FOR DVD/VCD PLAYERS 2002年 3月 27日
Application note Migration From 3.3-V To 2.5-V Power Supplies For Logic Devices 1997年 12月 1日
Application note Bus-Interface Devices With Output-Damping Resistors Or Reduced-Drive Outputs (Rev. A) 1997年 8月 1日
Application note CMOS Power Consumption and CPD Calculation (Rev. B) 1997年 6月 1日
Application note LVC Characterization Information 1996年 12月 1日
Application note Input and Output Characteristics of Digital Integrated Circuits 1996年 10月 1日
Application note Live Insertion 1996年 10月 1日
Design guide Low-Voltage Logic (LVC) Designer's Guide 1996年 9月 1日
Application note Understanding Advanced Bus-Interface Products Design Guide 1996年 5月 1日
Selection guide Logic Guide (Rev. AC) PDF | HTML 1994年 6月 1日

設計與開發

如需其他條款或必要資源,請按一下下方的任何標題以檢視詳細頁面 (如有)。

開發板

5-8-LOGIC-EVM — 適用於 5 針腳至 8 針腳 DCK、DCT、DCU、DRL 和 DBV 封裝的通用邏輯評估模組

靈活的 EVM 旨在支援任何針腳數為 5 至 8 支且採用 DCK、DCT、DCU、DRL 或 DBV 封裝的裝置。
使用指南: PDF
TI.com 無法提供
開發板

AWR2E44PEVM — AWR2E44P 評估模組

AWR2E44PEVM 是適用於 AWR2E44P mmWave 感測裝置且使用方便的評估板,可直接連線至 DCA1000EVM。此 EVM 套件包含開始為晶片內建 ARM® Cortex-R5F® 控制器及硬體加速器 (HWA 2.1) 開發軟體的一切所需。此外也包含適用編程和偵錯的板載模擬,以及板載按鈕和 LED,以快速整合簡單的使用者介面。
使用指南: PDF | HTML
TI.com 無法提供
模擬型號

HSPICE Model for SN74LVC1G04

SCEJ180.ZIP (86 KB) - HSpice Model
模擬型號

SN74LVC1G04 Behavioral SPICE Model

SCEM644.ZIP (7 KB) - PSpice Model
模擬型號

SN74LVC1G04 IBIS Model (Rev. C)

SCEM216C.ZIP (45 KB) - IBIS Model
參考設計

TIDA-01409 — 車用電容式腳踢開啟參考設計

此參考設計採用電容式感測來偵測踢腿動作,以辨識使用者希望啟動汽車上的電動升降門、電動後車廂或電動滑動門。  電容式感測允許靈活的感測器配置與大面積踢腿感應區。本設計具備高解析度與低功率,適用於需手勢偵測及低電池電流消耗的車用免手持關閉系統。
Design guide: PDF
電路圖: PDF
參考設計

TIDA-01040 — 適合高電流應用的電池測試器參考設計

鋰離子電池化成與電氣測試需要準確的電壓與電流控制,通常要求在規定溫度範圍內實現高於 ± 0.05% 的控制準確度。  此參考設計為高電流(最高 50A)電池測試器應用提供解決方案,支援 8V 至 16V 的輸入(匯流排)電壓和 0V 至 5V 的輸出負載(電池)電壓。此設計運用整合式多相雙向控制器 LM5170 以及高精密資料轉換器和儀器放大器,可實現 0.01% 的全刻度充電與放電準確度。為了最大程度地提高電池容量並縮短電池化成時間,此設計採用高準確度的定電流 (CC) 與定電壓 (CV) (...)
Design guide: PDF
電路圖: PDF
參考設計

TIDA-01041 — 適合多相高精密度 0.5 至 100A 電池化成作業的電池測試器參考設計

此參考設計可提供適合各種電流電池測試應用的多相解決方案。運用雙相降壓/升壓控制器 LM5170 的菊鍊配置,讓此設計能達到 100A 充電/放電率。TIDA-01041 運用高準確度定電流 (CC) 與定電壓 (CV) 校準迴路,可達到高達 0.01% 的電壓控制準確度。所有關鍵設計理論均已介紹,可指導使用者逐步進行零件選擇流程和最佳優化。最後,也會說明電路圖、電路板配置、硬體測試及結果。
Design guide: PDF
電路圖: PDF
參考設計

TIDA-01042 — 適合 50-A、100-A 及 200-A 應用的模組化電池測試器參考設計

此參考設計提供了模組化電池測試解決方案,可讓使用者透過單一設計,靈活測試不同電流位準的電池。此設計利用 TIDA-01041 參考設計,提供兩個可獨立運作或並聯的 100-A 電池測試器,以便將最大電流輸出從 100A 增加至 200A。此設計提供此解決方案的設計理論、零件選擇及最佳化。
Design guide: PDF
電路圖: PDF
參考設計

TIDA-00580 — 通過車規認證的 16 位元旋轉相位差編碼器參考設計

在許多情況下,人們更喜歡在觸控式螢幕上使用旋鈕。  此解決方案減少與微控制器的必要連接,監控旋轉相位差編碼器的旋轉方向和距離。
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電路圖: PDF
封裝 針腳 CAD 符號、佔位空間與 3D 模型
SOT-23 (DBV) 5 Ultra Librarian
SOT-SC70 (DCK) 5 Ultra Librarian

訂購與品質

內含資訊:
  • RoHS
  • REACH
  • 產品標記
  • 鉛塗層/球物料
  • MSL 等級/回焊峰值
  • MTBF/FIT 估算值
  • 材料內容
  • 認證摘要
  • 進行中持續性的可靠性監測
內含資訊:
  • 晶圓廠位置
  • 組裝地點

支援與培訓

內含 TI 工程師技術支援的 TI E2E™ 論壇

內容係由 TI 和社群貢獻者依「現狀」提供,且不構成 TI 規範。檢視使用條款

若有關於品質、封裝或訂購 TI 產品的問題,請參閱 TI 支援。​​​​​​​​​​​​​​

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