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SN74LVC1G04-Q1

활성

오토모티브 단일 1.65V~5.5V 인버터

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SN74LVC1G04-Q1

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제품 상세 정보

Technology family LVC Supply voltage (min) (V) 1.65 Supply voltage (max) (V) 5.5 Number of channels 1 IOL (max) (mA) 32 IOH (max) (mA) -32 Supply current (max) (µA) 10 Input type Standard CMOS Output type Push-Pull Features Balanced outputs, Over-voltage tolerant inputs, Partial power down (Ioff), Very high speed (tpd 5-10ns) Rating Automotive Operating temperature range (°C) -40 to 125
Technology family LVC Supply voltage (min) (V) 1.65 Supply voltage (max) (V) 5.5 Number of channels 1 IOL (max) (mA) 32 IOH (max) (mA) -32 Supply current (max) (µA) 10 Input type Standard CMOS Output type Push-Pull Features Balanced outputs, Over-voltage tolerant inputs, Partial power down (Ioff), Very high speed (tpd 5-10ns) Rating Automotive Operating temperature range (°C) -40 to 125
SOT-23 (DBV) 5 8.12 mm² 2.9 x 2.8 SOT-SC70 (DCK) 5 4.2 mm² 2 x 2.1
  • Qualified for automotive applications
  • AEC-Q100 qualified with the following results:
    • Device temperature grade 1: –40°C to 125°C ambient operating temperature range
    • Device HBM ESD classification level H2
    • Device CDM ESG classification level C4B
  • ESD protection exceeds 2000V per MIL-STD-883, method 3015; exceeds 200V using machine model (C = 200pF, R = 0)
  • Supports 5V VCC operation
  • Inputs accept voltages to 5.5V
  • Maximum tpd of 3.3ns at 3.3V
  • Low power consumption, 10µA maximum ICC
  • ±24mA output drive at 3.3V
  • Ioff supports partial-power-down mode operation
  • Latch-up performance exceeds 100mA per JESD 78, Class II
  • Qualified for automotive applications
  • AEC-Q100 qualified with the following results:
    • Device temperature grade 1: –40°C to 125°C ambient operating temperature range
    • Device HBM ESD classification level H2
    • Device CDM ESG classification level C4B
  • ESD protection exceeds 2000V per MIL-STD-883, method 3015; exceeds 200V using machine model (C = 200pF, R = 0)
  • Supports 5V VCC operation
  • Inputs accept voltages to 5.5V
  • Maximum tpd of 3.3ns at 3.3V
  • Low power consumption, 10µA maximum ICC
  • ±24mA output drive at 3.3V
  • Ioff supports partial-power-down mode operation
  • Latch-up performance exceeds 100mA per JESD 78, Class II

This single inverter gate is designed for 1.65V to 5.5V VCC operation.

The SN74LVC1G04-Q1 performs the Boolean function Y = A.

This device is fully specified for partial-power-down applications using Ioff. The Ioff circuitry disables the outputs, preventing damaging current backflow through the device when the device is powered down.

This single inverter gate is designed for 1.65V to 5.5V VCC operation.

The SN74LVC1G04-Q1 performs the Boolean function Y = A.

This device is fully specified for partial-power-down applications using Ioff. The Ioff circuitry disables the outputs, preventing damaging current backflow through the device when the device is powered down.
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Application note TI IBIS File Creation, Validation, and Distribution Processes 2002/08/29
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Application note Bus-Interface Devices With Output-Damping Resistors Or Reduced-Drive Outputs (Rev. A) 1997/08/01
Application note CMOS Power Consumption and CPD Calculation (Rev. B) 1997/06/01
Application note LVC Characterization Information 1996/12/01
Application note Input and Output Characteristics of Digital Integrated Circuits 1996/10/01
Application note Live Insertion 1996/10/01
Design guide Low-Voltage Logic (LVC) Designer's Guide 1996/09/01
Application note Understanding Advanced Bus-Interface Products Design Guide 1996/05/01
Selection guide Logic Guide (Rev. AC) PDF | HTML 1994/06/01

설계 및 개발

추가 조건 또는 필수 리소스는 사용 가능한 경우 아래 제목을 클릭하여 세부 정보 페이지를 확인하세요.

평가 보드

5-8-LOGIC-EVM — 5핀~8핀 DCK, DCT, DCU, DRL 및 DBV 패키지용 일반 논리 평가 모듈

5~8핀 수의 DCK, DCT, DCU, DRL 또는 DBV 패키지가 있는 모든 디바이스를 지원하도록 설계된 유연한 EVM.
사용 설명서: PDF
TI.com에서 구매 불가
평가 보드

AWR2E44PEVM — AWR2E44P 평가 모듈

AWR2E44PEVM은 사용하기 간편한 AWR2E44P mmWave 감지 장치용 평가 보드로, DCA1000EVM에 직접 연결됩니다. 이 EVM 키트에는 온칩 ARM® Cortex-R5F® 컨트롤러 및 하드웨어 억셀러레이터(HWA 2.1)용 소프트웨어 개발을 시작하는 데 필요한 모든 것이 포함되어 있습니다. 이 보드에는 프로그래밍 및 디버깅을 위한 온보드 에뮬레이션과 온보드 버튼, 간단한 사용자 인터페이스를 신속하게 통합할 수 있도록 하는 LED도 포함되어 있습니다.
사용 설명서: PDF | HTML
TI.com에서 구매 불가
시뮬레이션 모델

HSPICE Model for SN74LVC1G04

SCEJ180.ZIP (86 KB) - HSpice Model
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시뮬레이션 모델

SN74LVC1G04 Behavioral SPICE Model

SCEM644.ZIP (7 KB) - PSpice Model
다운로드
시뮬레이션 모델

SN74LVC1G04 IBIS Model (Rev. C)

SCEM216C.ZIP (45 KB) - IBIS Model
다운로드
레퍼런스 디자인

TIDA-01409 — 오토모티브 정전식 킥 투 오픈(Kick to Open) 레퍼런스 디자인

이 레퍼런스 설계는 정전식 감지를 사용하여 발차기 동작을 탐지해 사용자가 자동차의 전동식 리프트 게이트, 전동 트렁크나 전동 슬라이딩 도어를 활성화하고자 한다는 의사를 감지합니다.  정전식 센서를 사용하면 센서를 유연하게 배치하고 큰 영역에서 발차기를 감지할 수 있습니다. 해상도가 높고 전력 손실이 적어 제스처 탐지와 배터리 저전류가 매우 중요한 차량용 핸즈프리 인클로저 시스템에 적합한 설계입니다.
Design guide: PDF
회로도: PDF
레퍼런스 디자인

TIDA-01040 — 고전류 애플리케이션용 배터리 테스터 레퍼런스 설계

리튬 이온 배터리 활성화 및 전기 테스트에는 정확한 전압 및 전류 제어가 필요하며, 일반적으로 지정된 온도 범위에서 ±0.05% 이상입니다.  이 레퍼런스 설계는 8V~16V의 입력(버스) 전압과 0V~5V의 출력 부하(배터리) 전압을 지원하는 고전류(최대 50A) 배터리 테스터 애플리케이션용 솔루션을 제안합니다. 이 설계는 고정밀 데이터 컨버터 및 계측 증폭기와 결합된 통합 다중 위상 양방향 컨트롤러인 LM5170을 활용하여 0.01% 풀 스케일의 충전 및 방전 정확도를 달성합니다. 배터리 용량을 극대화하고 배터리 활성화 (...)
Design guide: PDF
회로도: PDF
레퍼런스 디자인

TIDA-01041 — 다중 위상 고정밀 0.5~100A 배터리 활성화를 위한 배터리 테스터 레퍼런스 설계

이 레퍼런스 설계는 다양한 고전류 배터리 테스트 애플리케이션을 위한 다중 위상 솔루션을 제공합니다. 이중 위상 벅/부스트 컨트롤러 LM5170의 데이지 체인 구성을 활용하면 100A의 충전/방전 속도를 구현하는 설계가 가능합니다. 고정밀 CC(정전류) 및 CV(정전압) 보정 루프를 활용하는 TIDA-01041은 최대 0.01%의 전압 제어 정확도를 달성할 수 있습니다. 모든 주요 설계 이론이 설명되어 사용자의 부품 선택 프로세스 및 최적화를 지원합니다. 마지막으로 회로도, 보드 레이아웃, 하드웨어 테스트 및 결과도 제공됩니다.
Design guide: PDF
회로도: PDF
레퍼런스 디자인

TIDA-01042 — 50A, 100A, 200A 애플리케이션용 모듈러 배터리 테스터 레퍼런스 설계

이 레퍼런스 설계는 사용자가 하나의 설계로 여러 전류 수준에서 배터리를 테스트할 수 있는 유연성을 제공하는 모듈러 배터리 테스트 솔루션을 제공합니다. 이 설계는 TIDA-01041 레퍼런스 설계를 활용하여 독립적으로 작동하거나 병렬 연결되어 최대 전류 출력을 100A에서 200A로 늘리는 100A 배터리 테스터 2개를 제공합니다. 이 설계는 이 솔루션의 설계 이론, 부품 선택 및 최적화에 대해 설명합니다.
Design guide: PDF
회로도: PDF
레퍼런스 디자인

TIDA-00580 — 오토모티브 인증, 16비트 회전식 직교 디코더 레퍼런스 디자인

사람들은 많은 상황에서 터치스크린보다 손잡이를 사용하는 것을 선호합니다.  이 솔루션은 회전식 직교 인코더의 방향과 회전 거리를 모니터링하기 위해 필요한 마이크로컨트롤러로의 연결을 최소화합니다.
Design guide: PDF
회로도: PDF
패키지 핀 CAD 기호, 풋프린트 및 3D 모델
SOT-23 (DBV) 5 Ultra Librarian
SOT-SC70 (DCK) 5 Ultra Librarian
TI의 평가 항목에 대한 표준 약관이 적용됩니다.

주문 및 품질

포함된 정보:
  • RoHS
  • REACH
  • 디바이스 마킹
  • 납 마감/볼 재질
  • MSL 등급/피크 리플로우
  • MTBF/FIT 예측
  • 물질 성분
  • 인증 요약
  • 지속적인 신뢰성 모니터링
포함된 정보:
  • 팹 위치
  • 조립 위치

지원 및 교육

TI 엔지니어의 기술 지원을 받을 수 있는 TI E2E™ 포럼

포럼 주제 모두 보기(영문)

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