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TPS7H3014-SP

AKTIV

Radiation-hardened, QML-V, 14V four channel power-supply sequencer

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Datenblatt

TPS7H3014-SP

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Produktdetails

Number of supplies monitored 4 Number of sequenced outputs 4 Rating Space Iq (typ) (mA) 2.5 Operating temperature range (°C) -55 to 125
Number of supplies monitored 4 Number of sequenced outputs 4 Rating Space Iq (typ) (mA) 2.5 Operating temperature range (°C) -55 to 125
CFP (HFT) 22 60.221856 mm² (6.211 mm × 9.696 mm)
  • Radiation performance:
    • Radiation hardness assurance (RHA) up to a total ionizing dose (TID) of 100 krad(Si) for the QML’s and 50 krad(Si) for the SEP
    • Single-event latchup (SEL), single-event burnout (SEB), and single-event gate rupture (SEGR) immune up to linear energy transfer (LET) = 75 MeV-cm2/mg for the QML’s and 43 MeV-cm2/mg for the SEP
    • Single-event functional interrupt (SEFI) and single-event transient (SET) characterized up to LET = 75 MeV-cm2/mg for the QML’s and 43 MeV-cm2/mg for the SEP
  • Wide supply IN voltage range (VIN): 3V to 14V
  • Sequence and monitor up to 4 voltage rails with a single device
    • Daisy chain capability for extended channel count
  • Single resistor programmable global timers for:
    • Sequence up and down delay
    • Sequence up time to regulation
  • Reverse order sequence down
  • Precision threshold voltage and hysteresis current
    • VTH_SENSEx of 599mV ±1% across: voltage, temperature, and radiation (TID)
    • IHYS_SENSEx of 24µA ±3% across: voltage, temperature, and radiation (TID)
  • Push-pull outputs with programmable pull-up voltage between 1.6V to 7V
    • Global ENx pull-up domain (VPULL_UP1)
    • Common SEQ_DONE and PWRGD pull-up domain (VPULL_UP2)
  • FAULT open drain output for monitoring of state machine induced faults

  • Plastic packages outgas tested per ASTM E595

  • Available in military (–55°C to 125°C) temperature range
  • Radiation performance:
    • Radiation hardness assurance (RHA) up to a total ionizing dose (TID) of 100 krad(Si) for the QML’s and 50 krad(Si) for the SEP
    • Single-event latchup (SEL), single-event burnout (SEB), and single-event gate rupture (SEGR) immune up to linear energy transfer (LET) = 75 MeV-cm2/mg for the QML’s and 43 MeV-cm2/mg for the SEP
    • Single-event functional interrupt (SEFI) and single-event transient (SET) characterized up to LET = 75 MeV-cm2/mg for the QML’s and 43 MeV-cm2/mg for the SEP
  • Wide supply IN voltage range (VIN): 3V to 14V
  • Sequence and monitor up to 4 voltage rails with a single device
    • Daisy chain capability for extended channel count
  • Single resistor programmable global timers for:
    • Sequence up and down delay
    • Sequence up time to regulation
  • Reverse order sequence down
  • Precision threshold voltage and hysteresis current
    • VTH_SENSEx of 599mV ±1% across: voltage, temperature, and radiation (TID)
    • IHYS_SENSEx of 24µA ±3% across: voltage, temperature, and radiation (TID)
  • Push-pull outputs with programmable pull-up voltage between 1.6V to 7V
    • Global ENx pull-up domain (VPULL_UP1)
    • Common SEQ_DONE and PWRGD pull-up domain (VPULL_UP2)
  • FAULT open drain output for monitoring of state machine induced faults

  • Plastic packages outgas tested per ASTM E595

  • Available in military (–55°C to 125°C) temperature range

The TPS7H3014 is an integrated, 3V to 14V, four-channel radiation-hardness-assured power-supply sequencer. Channel count can be expanded by connecting multiple devices in a daisy-chain configuration. The device provides sequence up and down control signals for integrated circuits (IC) with active high ("on") inputs. In addition SEQ_DONE and PWRGD flags are provided to monitor the sequence and power status of the monitored power tree.

An accurate 599mV ±1% threshold voltage and a 24µA ±3% hysteresis current provide programmable rise and fall monitoring voltages. The rise and fall delay time is globally programmed via a single resistor. Also, a time-to-regulation timer is provided to track the rising voltage on SENSEx. In addition to these features, a FAULT detection pin is incorporated to monitor internally generated faults and provide increased system level reliability for power sequencing space applications. A standard microcircuit drawing (SMD) is available for the QML variant, 5962R2320101VXC.

The TPS7H3014 is an integrated, 3V to 14V, four-channel radiation-hardness-assured power-supply sequencer. Channel count can be expanded by connecting multiple devices in a daisy-chain configuration. The device provides sequence up and down control signals for integrated circuits (IC) with active high ("on") inputs. In addition SEQ_DONE and PWRGD flags are provided to monitor the sequence and power status of the monitored power tree.

An accurate 599mV ±1% threshold voltage and a 24µA ±3% hysteresis current provide programmable rise and fall monitoring voltages. The rise and fall delay time is globally programmed via a single resistor. Also, a time-to-regulation timer is provided to track the rising voltage on SENSEx. In addition to these features, a FAULT detection pin is incorporated to monitor internally generated faults and provide increased system level reliability for power sequencing space applications. A standard microcircuit drawing (SMD) is available for the QML variant, 5962R2320101VXC.
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Technische Dokumentation

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* Datenblatt TPS7H3014-SP and TPS7H3014-SEP Radiation-Hardened, 14V, 4-Channel Sequencer datasheet (Rev. D) PDF | HTML 27.07.2025
* Strahlungs- und Zuverlässigkeitsbericht TPS7H3014-SP and TPS7H3014-SEP Total Ionizing Dose (TID) Radiation Report (Rev. B) 29.07.2026
* Strahlungs- und Zuverlässigkeitsbericht TPS7H3014-SP Single-Event Effects (SEE) PDF | HTML 12.06.2024
* Strahlungs- und Zuverlässigkeitsbericht TPS7H3014-SP Neutron Displacement Damage (NDD) Characterization Report 04.04.2024
* SMD TPS7H3014-SP SMD 5962-23201 20.06.2024
Auswahlhilfe TI Space Products (Rev. L) 27.03.2026
Anwendungshinweis Hermetic Package Reflow Profiles, Termination Finishes, and Lead Trim and Form (Rev. A) PDF | HTML 05.11.2025
Application brief DLA Approved Optimizations for QML Products (Rev. C) PDF | HTML 17.06.2025
Anwendungshinweis Heavy Ion Orbital Environment Single-Event Effects Estimations (Rev. B) PDF | HTML 10.06.2025
Weitere Dokumente TI Engineering Evaluation Units vs. MIL-PRF-38535 QML Class V Processing (Rev. B) 20.02.2025
Anwendungshinweis QML flow, its importance, and obtaining lot information (Rev. C) 30.08.2023
Anwendungshinweis Single-Event Effects Confidence Interval Calculations (Rev. A) PDF | HTML 19.10.2022
Anwendungshinweis DLA Standard Microcircuit Drawings (SMD) and JAN Part Numbers Primer 21.08.2020
E-book Radiation Handbook for Electronics (Rev. A) 21.05.2019

Design und Entwicklung

Weitere Bedingungen oder erforderliche Ressourcen enthält gegebenenfalls die Detailseite, die Sie durch Klicken auf einen der unten stehenden Titel erreichen.

Evaluierungsplatine

TPS7H3014EVM-CVAL — TPS7H3014-SP-Evaluierungsmodul

Das TPS7H3014EVM-CVAL demonstriert den Betrieb eines einzelnen TPS7H3014-SP-Sequenzers. Die Platine umfasst Footprints, die mit zusätzlichen Komponenten bestückt werden können, um das Testen kundenspezifischer Konfigurationen zu ermöglichen, wie z. B. Sequenzer in Reihenschaltung.
Benutzerhandbuch: PDF | HTML
Unterstützte Produkte und Hardware
Vorrätig
Limit:
??asset.out-of-stock-ti_de_DE??
Nicht verfügbar
Evaluierungsplatine

ALPHA-3P-VB630-SPACE-AMD — Alpha Data ADM-VB630 Kit mit AMD Versal Edge XQRVE2302 ACAP und strahlungstoleranten Produkten von T

Dies ist ein 3U-VPX-Formfaktor, der den AMD-Xilinx® Versal AI Edge XQRVE2302 anpassbaren SoC/FPGA hervorhebt. ADM-VB630 ist eine Single-Board-Computerplatine. Bei den meisten Komponenten handelt es sich um strahlungstolerante Stromversorgungs-, Schnittstellen- und Sensorikkomponenten (-SEP).

Von: Alpha Data Parallel Systems Ltd.
Unterstützte Produkte und Hardware
Simulationsmodell

TPS7H3014-SP and TPS7H3014-SEP PSpice Transient Model

SNVMCF1.ZIP (72 KB) - PSpice-Modell
Unterstützte Produkte und Hardware
Referenzdesign

TIDA-050088 — Strahlungstolerantes Stromversorgungs-Referenzdesign für Versal AI Edge

Dies ist ein Referenzdesign für eine strahlungstolerante Leistungsarchitektur für den Versal™ AI Edge XQRVE2302 von AMD. Versal Edge ist ein anpassungsfähiges System-on-Chip (SoC) für Raumfahrtanwendungen, das hohe Leistung in einem kleinen Formfaktor ermöglicht. Eine robuste Stromversorgung ist (...)
Unterstützte Produkte und Hardware
Gehäuse Pins CAD-Symbole, Footprints und 3D-Modelle
CFP (HFT) 22 Ultra Librarian
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