TL7700-SEP
- VID V62/19602
- 耐辐射
- 单粒子锁定 (SEL) 在 125°C 下的抗扰度可达 43MeV-cm 2/mg
- 每个晶圆批次的 RLAT 总电离剂量 (TID) 高达 20krad(Si)
- 增强型航天塑料
- 受控基线
- 金线
- NiPdAu 铅涂层
- 一个组装和测试基地
- 一个制造基地
- 支持军用(–55°C 至 125°C)温度范围
- 延长了产品生命周期
- 延长了产品变更通知
- 产品可追溯性
- 采用增强型模塑化合物实现低释气
- 可通过两个外部电阻器来调节检测电压
- 1% 检测电压容差 (25°C)
- 可调节检测电压的迟滞
- 宽工作电源电压范围: 1.8V 至 40V
- 低功耗: I CC = 0.6mA(典型值),V CC = 40V
TL7700-SEP 是一款专为用作微型计算机和微处理器系统中的复位控制器而设计的双极集成电路。使用两个外部电阻器可将检测电压设置为大于 0.5V 的任何值。
电路功能非常稳定,电源电压范围为 1.8V 至 40V。由于具有超小的电源电流,该器件可用于交流线路供电型应用和便携式电池供电型应用。TL7700-SEP 器件的设计工作温度范围是 –55°C 至 125°C。
技术文档
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查看全部 12 类型 | 项目标题 | 下载最新的英语版本 | 日期 | |||
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* | 数据表 | TL7700-SEP 采用增强型航天塑料的耐辐射电源电压监控器 数据表 (Rev. A) | PDF | HTML | 下载英文版本 (Rev.A) | PDF | HTML | 2023年 4月 27日 |
* | 辐射与可靠性报告 | TL7700-SEP Single-Event Latch-Up (SEL) Radiation Report (Rev. A) | 2022年 7月 7日 | |||
* | 辐射与可靠性报告 | TL7700-SEP NDD (Neutron Displacement Damage) Characterization Test Report | 2021年 5月 5日 | |||
* | VID | TL7700-SEP VID V6219602 | 2020年 8月 6日 | |||
* | 辐射与可靠性报告 | TL7700-SEP Production Flow and Reliability Report | 2019年 4月 24日 | |||
* | 辐射与可靠性报告 | TL7700-SEP Total Ionizing Dose (TID) Radiation Report | 2019年 4月 5日 | |||
应用手册 | 借助增强型航天塑料产品降低近地轨道任务的风险 (Rev. A) | PDF | HTML | 下载英文版本 (Rev.A) | PDF | HTML | 2022年 10月 14日 | |
技术文章 | How Space-Enhanced Plastic devices address challenges in low-Earth orbit applications | 2022年 9月 19日 | ||||
电子书 | 电子产品辐射手册 (Rev. B) | 2022年 5月 7日 | ||||
选择指南 | TI Space Products (Rev. I) | 2022年 3月 3日 | ||||
测试报告 | 24-W, 120-VAC to 24-VDC High-Voltage Buck Reference Design | PDF | HTML | 2021年 7月 20日 | |||
电子书 | 电子产品辐射手册 (Rev. A) | 2019年 5月 21日 |
设计和开发
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评估板
ALPHA-3P-ADM-VA600-SPACE-AMD — 采用 AMD Versal 内核 XQRVC1902 ACAP 和 TI 耐辐射产品的 Alpha Data ADM-VA600 套件
具有 6U VPX 外形,突出了 AMD-Xilinx® Versal AI Core XQRVC1902 自适应 SoC/FPGA。ADM-VA600 采用模块化板设计,带有一个 FMC+ 连接器、DDR4 DRAM 和系统监控功能。大多数元件是耐辐射电源管理、接口、时钟和嵌入式处理 (-SEP) 器件。
模拟工具
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