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SN54SC4T08-SEP

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具有逻辑电平转换器的抗辐射、四通道、双输入正与门

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产品详情

Technology family SCxT Number of channels 4 Vout (min) (V) 1.2 Vout (max) (V) 5.5 Features Balanced outputs, Over-voltage tolerant inputs Input type TTL-Compatible CMOS Operating temperature range (°C) -55 to 125
Technology family SCxT Number of channels 4 Vout (min) (V) 1.2 Vout (max) (V) 5.5 Features Balanced outputs, Over-voltage tolerant inputs Input type TTL-Compatible CMOS Operating temperature range (°C) -55 to 125
TSSOP (PW) 14 32 mm² 5 x 6.4
  • 提供供应商项目图，VID V62/23620
  • 电离辐射总剂量额定值为 30krad(Si)
    • 每个晶圆批次的辐射批次验收测试电离辐射总剂量 (TID RLAT) 额定值高达 30krad(Si)
  • 单粒子效应 (SEE) 特性：
    • 单粒子锁定 (SEL) 对于线性能量传递 (LET) 的抗扰度 = 43MeV-cm2/mg
    • 单粒子瞬变 (SET) 额定值为 43MeV-cm2/mg
  • 1.2V 至 5.5V 的宽工作电压范围
  • 5/3.3/2.5/1.8/1.2V V CC 单电源电压转换门
    • TTL 兼容输入：
      • 升压转换：
        • 1.8V – 1.2V 的输入
        • 2.5V – 1.8V 的输入
        • 3.3V – 1.8V、2.5V 的输入
        • 5.0V – 2.5V、3.3V 的输入
      • 降压转换：
        • 1.2V – 1.8V、2.5V、3.3V、 5.0V 的输入
        • 1.8V – 2.5V、3.3V、5.0V 的输入
        • 2.5V – 3.3V、5.0V 的输入
        • 3.3V – 5.0V 的输入
  • 5.5V 容限输入引脚
  • 5V 时，输出驱动高达 25mA
  • 闩锁性能超过 250mA，符合 JESD 17 规范
  • 增强型航天塑料 (SEP)
    • 受控基线
    • 金键合线
    • NiPdAu 铅涂层
    • 一个组装和测试基地
    • 一个制造基地
    • 军用级（-55°C 到 125°C）温度范围
    • 延长了产品生命周期
    • 延长了产品变更通知 (PCN)
    • 产品可追溯性
    • 符合 NASAs ASTM E595 释气规格要求
  • 提供供应商项目图，VID V62/23620
  • 电离辐射总剂量额定值为 30krad(Si)
    • 每个晶圆批次的辐射批次验收测试电离辐射总剂量 (TID RLAT) 额定值高达 30krad(Si)
  • 单粒子效应 (SEE) 特性：
    • 单粒子锁定 (SEL) 对于线性能量传递 (LET) 的抗扰度 = 43MeV-cm2/mg
    • 单粒子瞬变 (SET) 额定值为 43MeV-cm2/mg
  • 1.2V 至 5.5V 的宽工作电压范围
  • 5/3.3/2.5/1.8/1.2V V CC 单电源电压转换门
    • TTL 兼容输入：
      • 升压转换：
        • 1.8V – 1.2V 的输入
        • 2.5V – 1.8V 的输入
        • 3.3V – 1.8V、2.5V 的输入
        • 5.0V – 2.5V、3.3V 的输入
      • 降压转换：
        • 1.2V – 1.8V、2.5V、3.3V、 5.0V 的输入
        • 1.8V – 2.5V、3.3V、5.0V 的输入
        • 2.5V – 3.3V、5.0V 的输入
        • 3.3V – 5.0V 的输入
  • 5.5V 容限输入引脚
  • 5V 时，输出驱动高达 25mA
  • 闩锁性能超过 250mA，符合 JESD 17 规范
  • 增强型航天塑料 (SEP)
    • 受控基线
    • 金键合线
    • NiPdAu 铅涂层
    • 一个组装和测试基地
    • 一个制造基地
    • 军用级（-55°C 到 125°C）温度范围
    • 延长了产品生命周期
    • 延长了产品变更通知 (PCN)
    • 产品可追溯性
    • 符合 NASAs ASTM E595 释气规格要求

SN54SC4T08-SEP 包含四个独立的双输入与门。每个逻辑门以正逻辑执行布尔函数 Y = A × B。输出电平以电源电压 (V CC) 为基准，并且支持 1.2V、1.8V、2.5V、3.3V 和 5V CMOS 电平。

该输入经设计，具有较低阈值电路，支持较低电压 CMOS 输入的上行转换（例如 1.2V 输入转换为 1.8V 输出或 1.8V 输入转换为 3.3V 输出）。此外，5V 容限输入引脚可实现下行转换（例如 3.3V 至 2.5V 输出）。

SN54SC4T08-SEP 包含四个独立的双输入与门。每个逻辑门以正逻辑执行布尔函数 Y = A × B。输出电平以电源电压 (V CC) 为基准，并且支持 1.2V、1.8V、2.5V、3.3V 和 5V CMOS 电平。

该输入经设计，具有较低阈值电路，支持较低电压 CMOS 输入的上行转换（例如 1.2V 输入转换为 1.8V 输出或 1.8V 输入转换为 3.3V 输出）。此外，5V 容限输入引脚可实现下行转换（例如 3.3V 至 2.5V 输出）。
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* 数据表 SN54SC4T08-SEP 具有集成式转换功能的耐辐射、1.2V 至 5.5V 四路双输入正与门 数据表 (Rev. A) PDF | HTML 下载英文版本 (Rev.A) PDF | HTML 2023年 8月 16日
* 辐射与可靠性报告 SN54SC4T08-SEP Production Flow and Reliability Report PDF | HTML 2023年 8月 23日
* 辐射与可靠性报告 SN54SC4T08-SEP Total Ionizing Dose Report PDF | HTML 2023年 8月 3日

设计和开发

如需其他信息或资源，请查看下方列表，点击标题即可进入详情页面。

评估板

14-24-LOGIC-EVM — 支持 14 到 24 引脚 PW、DB、D、DW、NS、DYY 和 DGV 封装的通用逻辑 EVM

该 EVM 设计用于支持采用 14 至 24 引脚 D、DW、DB、NS、PW、DYY 或 DGV 封装的任何逻辑器件。

用户指南: PDF | HTML
下载英文版本 (Rev.B): PDF | HTML
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  • 器件标识
  • 引脚镀层/焊球材料
  • MSL 等级/回流焊峰值温度
  • MTBF/时基故障估算
  • 材料成分
  • 认证摘要
  • 持续可靠性监测

支持与培训

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