LMK04826BEVM LMK04826BEVM 评估模块 angled board image

LMK04826BEVM

LMK04826BEVM 评估模块

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LMK04826BEVM 的特性

  • JEDEC JESD204B 支持
  • 超低的 RMS 抖动
  • 双环路架构
  • 3 个带有 LOS 的冗余输入时钟
  • 精密数字延迟,固定或动态可调
  • 评估套件包括适用于 USB 与评估板连接的 USB2ANY 模块。

LMK04826BEVM 的说明

LMK04826BEVM 和 LMK04828BEVM 支持 LMK04820 系列产品,该系列产品是支持 JEDEC JESD204B 且在业内具备超高性能的时钟调节器。双环路 PLLatinum™ 架构使用低噪声 VCXO 模块实现低于 100fs 的抖动(12kHz 至 20MHz)。双环架构由两个高性能锁相环 (PLL)、一个低噪声晶体振荡器电路以及一个高性能压控振荡器 (VCO) 构成。

第一个 PLL (PLL1) 具有低噪声抖动消除器功能,第二个 PLL (PLL2) 则执行时钟和 SYSREF 生成。PLL1 可配置为与外部 VCXO 模块配合使用,或与具有外部可调晶体和变容二极管的集成式晶体振荡器配合使用。用于很窄的环路带宽时,PLL1 使用 VCXO 模块或可调晶体的优异近端相位噪声(偏移低于 50kHz)清理输入时钟。PLL1 的输出将用作 PLL2 的清理输入参考,以锁定集成式 VCO。

可对 PLL2 的环路带宽进行优化以清理远端相位噪声(偏移高于 50 kHz),集成式 VCO 优于 VCXO 模块或 PLL1 中使用的可调晶体。

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