LMG3527R030
- 带集成栅极驱动器的 650V GaN-on-Si FET
- 集成高精度栅极偏置电压
- 200V/ns FET 释抑
- 2MHz 开关频率
- 20V/ns 至 150V/ns 压摆率,用于优化开关性能与缓解 EMI
- 由 7.5V 至 18V 电源供电
- 强大的保护
- 响应时间 < 100ns 的逐周期过流与锁存短路保护
- 硬开关时可承受 720V 浪涌
- 针对内部过热和 UVLO 监控的自我保护
- 高级电源管理
- 数字温度 PWM 输出
- LMG3526R030 包括有助于实现软开关转换器的零电压检测功能 (ZVD)
- LMG3527R030 包括有助于实现软开关转换器的零电流检测功能(ZCD)
- 顶部冷却 12mm × 12mm VQFN 封装将电气路径和散热路径分开,可实现超低的电源环路电感
LMG352xR030 GaN FET 具有集成式驱动器和保护功能,适用于开关模式电源转换器,能够让设计人员实现更高水平的功率密度与效率。
LMG352xR030 集成了一个硅驱动器,可实现高达 150V/ns 的开关速度。与分立式硅栅极驱动器相比,TI 的集成式精密栅极偏置可实现更高的开关 SOA。这种集成特性与 TI 的低电感封装技术相结合,可在硬开关电源拓扑中提供干净的开关和超小的振铃。可调栅极驱动强度允许将压摆率控制在 20V/ns 至 150V/ns 之间,这可用于主动控制 EMI 并优化开关性能。LMG3526R030包含零电压检测(ZVD)功能,能够在实现零电压开关时提供 ZVD 引脚脉冲输出。LMG3527R030 包含零电流检测(ZCD)功能,能够在检测到源极到漏极的正向电流时提供 ZCD 引脚脉冲输出。
高级电源管理功能包括数字温度报告和故障检测。GaN FET 的温度通过可变占空比 PWM 输出进行报告,这可简化器件加载管理。报告的故障包括过流、短路、过热、VDD UVLO 以及高阻抗 RDRV 引脚。
技术文档
未找到结果。请清除搜索并重试。
查看全部 1 类型 | 标题 | 下载最新的英语版本 | 日期 | |||
---|---|---|---|---|---|---|
* | 数据表 | 集成了驱动器、保护与温度报告功能的 LMG352xR030 650 V 30 mΩ GaN FET 数据表 (Rev. B) | PDF | HTML | 英语版 (Rev.B) | PDF | HTML | 2025年 2月 13日 |
设计和开发
如需其他信息或资源,请点击以下任一标题进入详情页面查看(如有)。
计算工具
Device Loss Calculator can be used to evaluate different devices for different topologies of the LLC Resonant Converter
参考设计
PMP23475 — 具有零电流检测功能、基于 GaN 的 5kW 两相图腾柱 PFC 参考设计
此参考设计是一款高密度、高效率的 5kW 功率因数校正 (PFC) 转换器,采用了 TI 高性能氮化镓 (GaN) 电源开关。峰值系统效率为 99.2%,该数值在 120W/in3 开放式框架功率密度下测得。该功率级在基于零电流检测 (ZCD) 的全新控制机制中采用两相图腾柱 PFC。新的控制方法采用变频工作,并在所有工作行条件下保持零电压开关 (ZVS)。该控制通过 TMS320F280039C 高性能微控制器和集成了 ZCD 检测感测功能的 LMG3527R030 GaN 场效应晶体管 (FET) 来实现。转换器的工作频率范围约介于 100kHz 和 800kHz 之间。
测试报告: PDF
封装 | 引脚 | CAD 符号、封装和 3D 模型 |
---|---|---|
VQFN (RQS) | 52 | Ultra Librarian |
订购和质量
包含信息:
- RoHS
- REACH
- 器件标识
- 引脚镀层/焊球材料
- MSL 等级/回流焊峰值温度
- MTBF/时基故障估算
- 材料成分
- 鉴定摘要
- 持续可靠性监测
包含信息:
- 制造厂地点
- 封装厂地点