AFE7070EVM AFE7070 集成 NCO、双通道 14 位 65MSPS DAC、射频 IQ 调制器和 LVDS 输出选项 EVM top board image

AFE7070EVM

AFE7070 集成 NCO、双通道 14 位 65MSPS DAC、射频 IQ 调制器和 LVDS 输出选项 EVM

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AFE7070EVM 的特性

  • AFE7070 的综合测试能力
  • 直接连接至 TSW3100/TSW1400 信号发生器
  • 包含用于时钟生成或抖动消除的 CDCM7005
  • 广泛适应各种时钟选项
  • 具有完整功能 GUI 的软件支持,以确保轻松测试和原型设计
  • LDO 或 DC/DC 电源选项
  • AFE7070EVM 的说明

    AFE7070EVM 是设计人员用来评估德州仪器 (TI) 的 AFE7070 发送器性能的电路板,该发生器为双路 14 位 65MSPS 数模转换器,具有集成的可编程四级滤波器和模拟正交调制器。AFE7070 包括用于生成/转换频率的数控振荡器和正交调制器校正电路等附加数字信号处理功能,具有 LO 漏电和边带抑制能力。

    该 EVM 提供了可在各种时钟、数据输入和射频输出条件下测试 AFE7070 的灵活环境。为便于使用,AFE7070EVM 包括用于为 AFE7070 计时的 CDCM7005 时钟发生器/抖动消除器。AFE7070 的射频输出(引脚 RFOUT)通过一个 100pF 电容器与 SMA 连接器进行交流耦合,连接器可以直接连接 50Ω 频谱分析仪或其他测试设备。AFE7070 的 LVDS 输出也可以通过 SMA 连接器使用。

    该 EVM 可以与 TSW3100/TSW1400 信号发生卡一起用于评估 WCDMA、LTE 或其他高性能调制方案。TSW3100/TSW1400 生成测试信号,该信号通过并行 CMOS 端口馈送至 AFE7070。CDCM7005 时钟芯片可用于使 TSW3100/TSW1400 板与 AFE7070EVM 保持同步。AFE7070EVM 还可以通过一个 2 行接头与 CMOS 输出信号发生器连接。

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