ZHCSFE9 August   2016 OPA857-DIE

PRODUCTION DATA.  

  1. 1特性
  2. 2应用
  3. 3说明
  4. 4静电放电警告
  5. 5Bare Die Information

封装选项

机械数据 (封装 | 引脚)
  • TD|0
散热焊盘机械数据 (封装 | 引脚)
订购信息

1 特性

  • 内部中级基准电压
  • 伪差分输出电压
  • 宽动态范围
  • 闭环互阻抗带宽：
    • 125MHz（5kΩ 互阻抗增益，1.5pF 外部寄生电容）
    • 105MHz（20kΩ 互阻抗增益，1.5pF 外部寄生电容）
  • 输入引入的电流噪声非常低（Brickwall 滤波器 BW = 135MHz）：
    • 15 nARMS（20kΩ 互阻抗）
  • 超短过载恢复时间：< 25ns
  • 内部输入保护二极管
  • 电源：
    • 电压：2.7V 至 3.6V
    • 电流：23.4mA
  • 扩展温度范围：-40°C 至 +85°C

2 应用

  • 光二极管监控
  • 高速 I/V 转换
  • 光学放大器
  • 计算机轴向断层 (CAT) 扫描仪前端

3 说明

OPA857-DIE 是一款针对光二极管监控应用的宽频带、快速过驱恢复、快速稳定、超低噪声互感抗 放大器。借助于可选反馈电阻，OPA857-DIE 简化了高性能光系统的设计。极快速过载恢复时间和内部输入保护提供了最佳组合，以便在最大限度地减少恢复时间的同时，保护信号链的剩余部分。两个可选的互阻抗增益配置可实现当代互阻抗放大器应用所需要的高动态范围和 灵活性。

此器件可在 -40°C 至 +85°C 的整个工业级温度范围内额定运行。

Ordering Information(1)

PRODUCT PACKAGE
DESIGNATOR		 PACKAGE ORDERABLE PART NUMBER PACKAGE QUANTITY
OPA857-DIE TD Bare die in gel pak VR(2) OPA857TD1 324
OPA857TD2 10
(1) For the most current package and ordering information, see the Package Option Addendum at the end of this document, or see the TI web site at www.ti.com.
(2) Processing is per the Texas Instruments commercial production baseline and is in compliance with the Texas Instruments Quality Control System in effect at the time of manufacture. Electrical screening consists of DC parametric and functional testing at room temperature only. Unless otherwise specified by Texas Instruments AC performance and performance over temperature is not warranted. Visual Inspection is performed in accordance with MIL-STD-883 Test Method 2010 Condition B at 75X minimum.