测试模式通常用于帮助验证微控制器或 FPGA 是否正确接收数字数据。可通过以下步骤启用斜坡模式:
- 点击黄色按钮“Analog Inputs and Clk”
- 在“Test Pattern CHA”旁边,点击下拉菜单,然后选择“RAMP CUSTOM”。也可以针对“Test Pattern CHB”执行此操作。
- 在“Custom Pattern”旁边的字段中,
- 对于 16 位斜坡模式(ADC3663EVM、ADC3662EVM),必须在“Custom Pattern”字段中输入“4”。
- 现在在 ADC 上启用了数字斜坡模式。ADC 的输出现在是一个 16 位的递增斜坡模式。
- 在 HSDC Pro 中,现在可以在捕获数据时看到斜坡模式。这些相同的步骤适用于任何数据输出模式(旁路、实时抽取和复杂抽取)。