ZHCSCX9 October   2014 RM41L232 , TMS470R1A288 , TMS470R1A384 , TMS470R1A64 , TMS470R1B1M , TMS470R1B512 , TMS470R1B768

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  1. 1器件概述
    1. 1.1 特性
    2. 1.2 应用
    3. 1.3 说明
    4. 1.4 功能方框图
  2. 2修订历史记录
  3. 3器件封装和引脚功能
    1. 3.1 PZ QFP 封装引脚分配（100 引脚）
    2. 3.2 引脚配置和功能
      1. 3.2.1  高端定时器 (N2HET)
      2. 3.2.2  增强型正交编码器脉冲模块 (eQEP)
      3. 3.2.3  通用输入/输出 (GIO)
      4. 3.2.4  控制器局域网络接口模块 (DCAN1，DCAN2)
      5. 3.2.5  多缓冲串行外设接口 (MibSPI1)
      6. 3.2.6  标准串行外设接口 (SPI2)
      7. 3.2.7  本地互连网络控制器 (LIN)
      8. 3.2.8  多缓冲模数转换器 (MibADC)
      9. 3.2.9  系统模块
      10. 3.2.10 错误信令模块 (ESM)
      11. 3.2.11 主振荡器
      12. 3.2.12 测试/调试接口
      13. 3.2.13 闪存
      14. 3.2.14 内核电源
      15. 3.2.15 I/O 电源
      16. 3.2.16 内核和 I/O 电源接地基准
    3. 3.3 输出复用和控制
      1. 3.3.1 输出多路复用的注意事项
      2. 3.3.2 多路复用控制寄存器的通用规则
    4. 3.4 特定复用选项
      1. 3.4.1 eQEP 输入过滤
        1. 3.4.1.1 eQEPA 输入
        2. 3.4.1.2 eQEPB 输入
        3. 3.4.1.3 eQEPI 输入
        4. 3.4.1.4 eQEPS 输入
      2. 3.4.2 N2HET PIN_nDISABLE 输入端口
  4. 4规范
    1. 4.1  自然通风运行温度范围内的最大绝对值，
    2. 4.2  处理额定值
    3. 4.3  上电小时数 (POH)
    4. 4.4  建议的运行条件
    5. 4.5  建议时钟域运行条件下的开关特性
    6. 4.6  要求等待状态
    7. 4.7  推荐运行条件内的功耗
    8. 4.8  PZ 的热阻特性
    9. 4.9  推荐运行条件下的输入/输出电气特性
    10. 4.10 输出缓冲器驱动强度
    11. 4.11 输入时序
    12. 4.12 输出时序
  5. 5系统信息和电气技术规范
    1. 5.1  电压监视器特性
      1. 5.1.1 重要考虑
      2. 5.1.2 电压监视器运行
      3. 5.1.3 电源过滤
    2. 5.2  电源排序和加电复位
      1. 5.2.1 加电顺序
      2. 5.2.2 断电序列
      3. 5.2.3 加电复位：nPORRST
        1. 5.2.3.1 nPORRST 电气和时序要求
    3. 5.3  热复位 (nRST)
      1. 5.3.1 热复位的原因
      2. 5.3.2 nRST 时序要求
    4. 5.4  ARM Cortex-R4 CPU 信息
      1. 5.4.1 ARM Cortex-R4 CPU 的特性概要
      2. 5.4.2 由软件启用的 ARM Cortex-R4 CPU 的功能
      3. 5.4.3 双内核执行
      4. 5.4.4 GCLK 之后的双重 CPU 时钟树
      5. 5.4.5 ARM Cortex-R4 CPU 用于安全目的的比较模块 (CCM)
      6. 5.4.6 CPU 自检
        1. 5.4.6.1 针对 CPU 自检的应用序列
        2. 5.4.6.2 CPU 自检时钟配置
        3. 5.4.6.3 CPU 自检范围
    5. 5.5  时钟
      1. 5.5.1 时钟源
        1. 5.5.1.1 主振荡器
          1. 5.5.1.1.1 针对主振荡器的时序要求
        2. 5.5.1.2 低功耗振荡器
          1. 5.5.1.2.1 特性
          2. 5.5.1.2.2 LPO 电气和时序技术规格
        3. 5.5.1.3 锁相环 (PLL) 时钟模块
          1. 5.5.1.3.1 方框图
          2. 5.5.1.3.2 PLL 时序技术规格
      2. 5.5.2 时钟域
        1. 5.5.2.1 时钟域说明
        2. 5.5.2.2 将时钟域映射到器件模块
      3. 5.5.3 时钟测试模式
    6. 5.6  时钟监视
      1. 5.6.1 时钟监视时序
      2. 5.6.2 外部时钟 (ECLK) 输出功能
      3. 5.6.3 双时钟比较器
        1. 5.6.3.1 特性
        2. 5.6.3.2 DCC 时钟源中断的映射
    7. 5.7  去毛刺脉冲滤波器
    8. 5.8  器件存储器映射
      1. 5.8.1 存储器映射图
      2. 5.8.2 存储器映射表
      3. 5.8.3 主器件/从器件访问权限
    9. 5.9  闪存存储器
      1. 5.9.1 闪存存储器配置
      2. 5.9.2 闪存模块的主要特性
      3. 5.9.3 针对闪存访问的 ECC 保护
      4. 5.9.4 闪存访问速度
    10. 5.10 程序闪存的闪存编程和擦除时序
    11. 5.11 闪存编程和擦除时序数据闪存
    12. 5.12 紧耦合 RAM 接口模块
      1. 5.12.1 特性
      2. 5.12.2 TCRAMW ECC 支持
    13. 5.13 用于外设 RAM 访问的奇偶校验保护
    14. 5.14 片载 SRAM 初始化和测试
      1. 5.14.1 使用 PBIST 的片载 SRAM 自检
        1. 5.14.1.1 特性
        2. 5.14.1.2 PBIST RAM 组
      2. 5.14.2 片载 SRAM 自动初始化
    15. 5.15 矢量中断管理器
      1. 5.15.1 VIM 特性
      2. 5.15.2 中断请求分配
    16. 5.16 实时中断模块
      1. 5.16.1 特性
      2. 5.16.2 方框图
      3. 5.16.3 时钟源选项
    17. 5.17 错误信令模块
      1. 5.17.1 特性
      2. 5.17.2 ESM 通道分配
    18. 5.18 复位/异常中断/错误状态
    19. 5.19 数字窗口式看门狗
    20. 5.20 调试子系统
      1. 5.20.1 方框图
      2. 5.20.2 调试组件内存映射
      3. 5.20.3 JTAG 识别代码
      4. 5.20.4 调试 ROM
      5. 5.20.5 JTAG 扫描接口时序
      6. 5.20.6 高级 JTAG 安全模块
      7. 5.20.7 边界扫描链
  6. 6外设信息和电气技术规范
    1. 6.1 外设图例
    2. 6.2 多缓冲12位模数转换器
      1. 6.2.1 特性
      2. 6.2.2 事件触发选项
        1. 6.2.2.1 MIBADC 事件触发接线
      3. 6.2.3 ADC 电气和时序技术规格
      4. 6.2.4 性能（精度）技术规格
        1. 6.2.4.1 MibADC 非线性误差
        2. 6.2.4.2 MibADC 总误差
    3. 6.3 通用输入/输出
      1. 6.3.1 特性
    4. 6.4 增强型高端定时器 (N2HET)
      1. 6.4.1 特性
      2. 6.4.2 N2HET RAM 组织结构
      3. 6.4.3 输入时序技术规格
      4. 6.4.4 N2HET 校验
        1. 6.4.4.1 使用双时钟比较器 (DCC) 的输出监视
      5. 6.4.5 禁用 N2HET 输出
      6. 6.4.6 高端定时器发送单元 (N2HET)
        1. 6.4.6.1 特性
        2. 6.4.6.2 触发连接
    5. 6.5 控制器局域网络 (DCAN)
      1. 6.5.1 特性
      2. 6.5.2 电气和时序技术规格
    6. 6.6 本地互连网络接口 (LIN)
      1. 6.6.1 LIN 特性
    7. 6.7 多缓冲/标准串行外设接口
      1. 6.7.1 特性
      2. 6.7.2 MibSPI 发送和接收 RAM 组织结构
      3. 6.7.3 MibSPI 发送触发事件
        1. 6.7.3.1 MIBSPI1 事件触发接线
      4. 6.7.4 MibSPI/SPI 主控模式 I/O 时序规范
      5. 6.7.5 SPI 受控模式 I/O 时序
    8. 6.8 增强型正交编码器 (eQEP)
      1. 6.8.1 针对 eQEPx 模块的时钟使能控制
      2. 6.8.2 使用 eQEP 相位误差
      3. 6.8.3 到 eQEPx 模块的输入连接
      4. 6.8.4 增强型正交编码器脉冲 (eQEPx) 时序
  7. 7器件和文档支持
    1. 7.1 器件支持
      1. 7.1.1 开发支持
        1. 7.1.1.1 开始使用
      2. 7.1.2 器件命名规则
    2. 7.2 文档支持
      1. 7.2.1 德州仪器 (TI) 相关文档
    3. 7.3 社区资源
    4. 7.4 商标
    5. 7.5 静电放电警告
    6. 7.6 术语表
    7. 7.7 器件识别码寄存器
    8. 7.8 芯片识别寄存器
    9. 7.9 模块认证
      1. 7.9.1 DCAN 认证
      2. 7.9.2 LIN 认证
        1. 7.9.2.1 LIN 主控模式
        2. 7.9.2.2 LIN 受控模式 - 固定波特率
        3. 7.9.2.3 LIN 受控模式 - 自适应波特率
  8. 8机械、封装和可订购产品附录
    1. 8.1 封装信息
 

重要声明

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