1 特性

• 关于 AEC-Q100 1 级/0 级/0 级扩展标准（符合 AEC-Q100 标准并采用汽车级流程制造），请参见 LM57-Q1 数据表
• 可通过外部电阻在 −40°C 至 +150°C 温度范围内设置跳变温度，
  精度为 ±1.7°C 或 ±2.3°C
• 电阻容差不会引入误差
• 推挽和开漏开关输出
• 宽工作温度范围：−50°C 至 150°C
• 超线性模拟 V_TEMP 温度传感器输出，−50°C 至 +150°C 温度范围内的精度为
  ±0.8°C 或 ±1.3°C
• 具有短路保护的模拟和数字输出
• 数字输出具有锁存功能
• TRIP-TEST 引脚支持系统内测试
• 低功耗特性最大程度减少自发热，使其低于 0.02°C

2 应用范围

• 工厂自动化
• 工业用
• 汽车用
• 井下设备
• 航空电子设备
• 电信基础设施

3 说明

LM57 器件是一款具有模拟温度传感器输出的精密双路输出温度开关，适用于宽温度范围的工业级应用。 跳变温度 (T_TRIP) 可从 –40°C 至 150°C 温度范围内的 256 种可能值中进行选择。V_TEMP 是 AB 类模拟电压输出，该电压输出与温度成正比，负温度系数 (NTC) 可编程。 两个外部 1% 电阻设置 T_TRIP 和 V_TEMP 斜率。 数字和模拟输出具有保护功能，并且可监视系统过热事件。

内置的热滞后功能 (T_HYST) 可防止数字输出发生振荡。 T_OVER 和 T_OVER 数字输出将在芯片温度超过 T_TRIP 时置为有效，在芯片温度低于 T_TRIP 与 T_HYST 的差值时置为无效。

T_OVER 为高电平有效，并且采用推挽结构。 T_OVER 为低电平有效，并且采用开漏结构。 将 T_OVER 与 TRIP-TEST 相连，可在输出发生跳变后将其锁存。 将 TRIP-TEST 强制为低电平可将输出清零。 将 TRIP-TEST 驱动为高电平会将数字输出置为有效。 处理器可检查 T_OVER 或 T_OVER 的状态，从而确认它们是否已切换至激活状态。 这样一来，便可以在系统装配后现场验证比较器和输出电路的功能。 当 TRIP-TEST 为高电平时，V_TEMP 引脚为跳变基准电压。 系统随后可使用该电压计算 LM57

1. 要了解所有可用封装，请见数据表末尾的可订购产品附录。
2. 关于器件比较，请参见Device Comparison Table。