ZHCSI39B April   2018  – March 2019 INA180-Q1 , INA2180-Q1 , INA4180-Q1

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  1. 特性
  2. 应用
  3. 说明
    1.     Device Images
      1.      典型应用电路
  4. 修订历史记录
  5. Device Comparison Table
  6. Pin Configuration and Functions
    1.     Pin Functions: INA180-Q1 (Single Channel)
    2.     Pin Functions: INA2180-Q1 (Dual Channel) and INA4180-Q1 (Quad Channel)
  7. Specifications
    1. 7.1 Absolute Maximum Ratings
    2. 7.2 ESD Ratings
    3. 7.3 Recommended Operating Conditions
    4. 7.4 Thermal Information
    5. 7.5 Electrical Characteristics
    6. 7.6 Typical Characteristics
  8. Detailed Description
    1. 8.1 Overview
    2. 8.2 Functional Block Diagrams
    3. 8.3 Feature Description
      1. 8.3.1 High Bandwidth and Slew Rate
      2. 8.3.2 Wide Input Common-Mode Voltage Range
      3. 8.3.3 Precise Low-Side Current Sensing
      4. 8.3.4 Rail-to-Rail Output Swing
    4. 8.4 Device Functional Modes
      1. 8.4.1 Normal Mode
      2. 8.4.2 Input Differential Overload
      3. 8.4.3 Shutdown Mode
  9. Application and Implementation
    1. 9.1 Application Information
      1. 9.1.1 Basic Connections
      2. 9.1.2 RSENSE and Device Gain Selection
      3. 9.1.3 Signal Filtering
    2. 9.2 Typical Application
      1. 9.2.1 Design Requirements
      2. 9.2.2 Detailed Design Procedure
      3. 9.2.3 Application Curve
  10. 10Power Supply Recommendations
    1. 10.1 Common-Mode Transients Greater Than 26 V
  11. 11Layout
    1. 11.1 Layout Guidelines
    2. 11.2 Layout Examples
  12. 12器件和文档支持
    1. 12.1 文档支持
      1. 12.1.1 相关文档
    2. 12.2 相关链接
    3. 12.3 接收文档更新通知
    4. 12.4 社区资源
    5. 12.5 商标
    6. 12.6 静电放电警告
    7. 12.7 术语表
  13. 13机械、封装和可订购信息

封装选项

机械数据 (封装 | 引脚)
散热焊盘机械数据 (封装 | 引脚)
订购信息

静电放电警告

esds-image

ESD 可能会损坏该集成电路。德州仪器 (TI) 建议通过适当的预防措施处理所有集成电路。如果不遵守正确的处理措施和安装程序 , 可能会损坏集成电路。

ESD 的损坏小至导致微小的性能降级 , 大至整个器件故障。 精密的集成电路可能更容易受到损坏 , 这是因为非常细微的参数更改都可能会导致器件与其发布的规格不相符。