ZHCSAB5K September   2012  – June 2026 BQ2947

PRODUCTION DATA  

  1.   1
  2. 1 特性
  3. 2 应用
  4. 3 说明
  5. 4 器件比较表
  6. 5 引脚配置和功能
  7. 6 规格
    1. 6.1 绝对最大额定值
    2. 6.2 ESD 等级
    3. 6.3 建议运行条件
    4. 6.4 热性能信息
    5. 6.5 电气特性
    6. 6.6 典型特性
  8. 7 详细说明
    1. 7.1 概述
    2. 7.2 功能方框图
    3. 7.3 特性说明
      1. 7.3.1 引脚详情
        1. 7.3.1.1 输入感测电压，Vx
        2. 7.3.1.2 输出驱动，OUT
        3. 7.3.1.3 电源电压，VDD
        4. 7.3.1.4 外部延迟电容器 CD
    4. 7.4 器件功能模式
      1. 7.4.1 正常模式
      2. 7.4.2 过压模式
      3. 7.4.3 客户测试模式
  9. 8 应用和实施
    1. 8.1 应用信息
    2. 8.2 典型应用
      1. 8.2.1 高电平有效的应用配置
        1. 8.2.1.1 设计要求
        2. 8.2.1.2 详细设计过程
        3. 8.2.1.3 应用曲线
    3. 8.3 电源相关建议
    4. 8.4 布局
      1. 8.4.1 布局指南
      2. 8.4.2 布局示例
  10. 9 器件和文档支持
    1. 9.1 器件支持
      1. 9.1.1 第三方产品免责声明
    2. 9.2 文档支持
      1. 9.2.1 相关文档
    3. 9.3 接收文档更新通知
    4. 9.4 支持资源
    5. 9.5 商标
    6. 9.6 静电放电警告
    7. 9.7 术语表
  11. 10修订历史记录
  12. 11机械、封装和可订购信息

封装选项

机械数据 (封装 | 引脚)
散热焊盘机械数据 (封装 | 引脚)
订购信息

7.4.3 客户测试模式

只需将外部 CD 电容器短接至 VSS，即可缩短检查过压功能的测试时间。在这种情况下，过压延迟可以降至 t(CD_GND) 值，最大值为 170ms。

图 7-3 显示了客户测试模式的时序。

BQ2947 客户测试模式的时序图 7-3 客户测试模式的时序

图 7-4 显示了相应产品 VDD 和 Vx 的电流消耗测量值。

BQ2947 IC 电流消耗测试配置图 7-4 IC 电流消耗测试配置