威布尔 AFR FIT

威布尔分布计算器用于针对一个“最薄弱环节”组件导致整个单元或系统出现故障的情况进行建模。

威布尔分布源自极值理论。广泛使用威布尔模型的半导体机制示例包括时间依赖电介质击穿 (TDDB)、焊点热疲劳或机械故障。


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用途

在给定形状和中位故障时间 (MTTF) 参数的情况下,计算对数正态分布的标示开始和结束时间之间的平均故障率 FIT。

公式

\[\begin{aligned} Reliability = e^{- \left({Time} / {Scale}\right) ^\beta} \\ \end{aligned} \]

\[\begin{aligned} \mathbf{Fail Probability \left(t_{end} - t_{start} \right)} = \frac{ \left( {\mathrm{Reliability}_{Start}} \right) - \left( {\mathrm{Reliability}_{End}} \right) }{\mathrm{Reliability}_{Start}} \\ \end{aligned} \]

\[\begin{aligned} \mathbf{AFR FIT} = 10^9 * \frac{ ln \left({\mathrm{Reliability}_{Start}} \right) - ln\left({\mathrm{Reliability}_{End}} \right) }{t_{end} - t_{start} } \\ \end{aligned} \]

σ - 形状参数

MTTF - 中位故障时间

故障概率 - 时间 t 结束时的条件失效概率(给定时间 t 开始时的存活概率)

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