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航天与国防 – 技术文档

电子产品辐射手册

我们的《电子产品辐射手册》可针对辐射对电子产品的影响为您提供全面的指导。这本 100 多页的电子书以 TI 专家团队几十年来的知识积累为基础编写而成,面向航空、工业和/或地面应用领域的工程师们提供了最新的设计注意事项。无论您的设计经验如何,您都将了解到以下内容:

  • 关于各种辐射环境、这些环境对 IC 器件 的影响,以及如何缓解这些影响的信息
  • 辐射鉴定所需的测试、流程和要求
  • 采用德州仪器 (TI) 航空级集成电路产品系列的优势 

仍在犹豫是否适合您?立即预览 辐射手册 。

Radiation Handbook for Electronics

准备好解锁专家们历经数十年累积的见解了吗?登录 myTI 下载。

关于作者

Robert Baumann, TI Fellow(荣誉称号)、首席技术专家

Robert 发现 10B 低能宇宙中子在特定 IC 层的反应会导致极大的可靠性风险,继而研发了缓解机制,该机制能直接将产品的失效率减少到原来的十分之一。他在业内推动了辐射影响方面的数个重大突破,曾负责国际标准开发和修订美国出口控制法律,在加入 TI 的 29 年中,他成为了 TI Dallas 和 TI Japan 集团的技术领导者。Robert 曾荣获 TI Fellow 和 IEEE Fellow 荣誉称号,与他人合著/个人发表过 >  90 篇论文、两个书本章节,并获得过十五项美国专利。2018 年,Robert 从 TI 退休。

Robert Baumann

Kirby Kruckmeyer,高级技术人员

Kirby 在美国国家半导体/德州仪器 (TI) 工作了将近 40 个春秋,在众多半导体技术学科领域均拥有丰富经验,这使得他成为了辐射对电子产品影响方面的专家。 他参与并做出贡献的项目包括晶圆处理、半导体物理、防辐射处理、免 ELDRS 处理、通过设计防辐射以及创新的辐射测试技术。

Kirby kruckmeyer

其它支持文献

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应用手册

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日期
RS-485 数据速率独立型半双工中继器设计 (Rev. A) PDF 812 02 Oct 2018
Data-rate independent half-duplex repeater design for RS-485 PDF 176 02 Oct 2018
LDO as a Load Switch PDF 415 01 Aug 2018

选择指南

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摘要
类型
尺寸 (KB)
日期
TI Space Products PDF 6372 06 Aug 2018
Enhanced Products Guide PDF 2043 29 Apr 2015
High Temperature Guide PDF 603 17 Jun 2013

辐射与可靠性报告

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类型
尺寸 (KB)
日期
LM239AMPWREP Reliability Report PDF 682 18 Feb 2019
Single-Event Effects Test Report of the TPS50601A-SP Synch Step-Down Converter PDF 1005 05 Feb 2019
Single Event Effects Test Report of the LMT01-SP Temp Sensor PDF 442 30 Jan 2019