TPD4E1U06DBVEVM

TPD4E1U06DBV Quad Channel High Speed ESD Protection Device Evaluation Module

TPD4E1U06DBVEVM

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概述

TPD4E1U06DBVEVM 在设计上允许通过 100Ω TMDS 线路或差分对进行 4 端口分析。电路板材料为 Rogers Board RO4350,介电常数 εr 为 3.48 +/- 0.05,损耗正切 δ 为 0.0031(2.5GHz 下)。端口连接器为表面贴装的 SMP 50Ω 高速连接器。

EVM 有两个部分:CALIBRATION 和 TPD4E1U06DBV。CALIBRATION 部分上的线迹与 TPD4E1U06DCK 部分上的线迹一致,在测试时不必对该器件进行切割即可排除电路板的影响而只评估所测试的器件的性能。

特性
  • 为低压 IO 接口提供系统级的 ESD 保护
  • IEC 61000-4-2 级别 4:
    • ±15kV(接触放电)
    • ±15kV(空气间隙放电)
  • IO 电容值 0.8pF(典型值)
  • 直流击穿电压 6.5V(最小值)
  • 超低泄漏电流 10nA(最大值)
  • 低 ESD 钳位电压
  • 工业温度范围:-40°C 至 125°C
  • 小型且易于布线的 DCK、DBV 和 DGS 封装
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类型 标题 下载最新的英文版本 日期
证书 TPD4E1U06DBVEVM EU Declaration of Conformity (DoC) 2019年 1月 2日
数据表 TPD4E1U06 四通道、高速 ESD 保护器件 数据表 (Rev. D) PDF | HTML 英语版 (Rev.D) PDF | HTML 2017年 10月 18日
EVM 用户指南 TPD4E1U06DBV EVM Userf's Guide 2013年 2月 14日

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