超声波扫描仪超声波系统设计资源和方框图。 |
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超声波扫描仪超声波系统设计资源和方框图。 |
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设计注意事项最新热点借助业界首款集成发送/接收开关 TX810,TI 加快了超声波系统的设计速度并将电路板面积减小 50% 以上 不管是医疗还是工业用超声波系统均采用聚焦成像技术,该技术所能达到的成像性能远远超出单通道的方案。采用阵列接收器,通过时间平移、缩放以及智能求和回波能量,可以构建高清晰度的图像。时间平移的概念以及缩放(基于传感器阵列所接收的信号)提供了对扫描区域单点“聚焦”的能力。通过一定的顺序聚焦于不同的点,最终汇集成像。 在扫描开始时,将产生一个脉冲信号并通过每个 8 至 512 传感器的单元发出。此脉冲将定时定量的&#34照射&#34人体的特定区域。在发射之后,传感器立即切换至接收模式。该脉冲此时将构成机械能的形态,以高频声波传播通过人体,典型频率范围介于 1MHz 至 15MHz 之间。随着传播的进行,信号急剧衰减,衰减量与传播距离的平方成正比。而随着信号的传播,一部分波前能量将被反射。这部分发射即为回波,将被接收电子器件检测到。由于反射靠近人体的表皮,直接反射的信号将十分强,而历经一段时间之后,反射所发出的脉冲将非常微弱,这是源于人体深处的反射。 传输至人体内部的总能量是有限的,因此业界必须开发出极为敏感的接收电子器件。在接近于皮肤的聚焦点,接收的回波非常强仅需要很小甚至不需要任何的放大。此区域被称为近区。但在深入人体的聚焦点,接收回波将异常的微弱,需要放大上千倍甚至更多。此区域被称为远区。在高增益(远区)模式下,对性能的限制主要源于接收链路中所有噪声信号源的叠加。对接收噪声影响最大的两个因素分别为传感器/电缆线的组装以及用于接收低噪声放大器 (LNA)。在低增益(近区)模式下,对性能的限制主要由输入信号的量级界定。上述两个区域信号之间的比率定义了系统的动态范围。许多接收链路都集成了具有可变增益放大器的 LNA。 低通滤波器应用于 VCA 及 ADC 之间,用于反锯齿滤波并限制噪声带宽。此处通常使用 2 至 5 极点滤波器,线性相位拓扑。在选择运算放大器时,首要的考虑因素包括了信号摆幅、最低及最高输入频率、谐波失真及增益需求。模数转换器 (ADC) 一般为 10 至 12 位。SNR 及功耗是最着重考虑的问题,随后是通道集成。ADC 的另一个趋势就是实现 ADC 与波束成型器之间的 LVDS 接口。通过串行化 ADC 的输出数据,一个 512 通道的系统可将其通道数由 6144 降低至 1024。这一降低将实现更小、更低成本的 PC 载板。 DSP 被用于多普勒处理、2D、3D 乃至 4D 成像以及大量后处理算法的成像系统,以增加功能并改善性能。而成像系统的核心需求正是高性能及大带宽。运行频率达 1GHz 或 1GHz 以上的 DSP 可满足对超声波高强度处理的需求,串行快速输入输出外设还提供了 10Gbps 的全双工带宽。 某些超声波系统需要高动态范围,或具有需要多个周期的功能。这些功能的示例还有频谱缩减及平方根功能。当超声波解决方案需要一个操作系统时,TMS320DM6446 可满足这一需求。DM6446 不仅具有功能强大的核心以及视频加速器(可用于处理成像需求),还具有 ARM9™ 核心,可满足运行操作系统的需求。信号的汇集通过数字波束成型器实现。它是典型的用户定制设计的 ASIC,但其功能则通过不同可编程逻辑方式实现。在数字波束成型器内部,数字化信号将被缩放及时间延迟,从而在接收链路产生聚焦效应。所有通过接收通道的信号在经过适当的调节之后将被加权,并输送至成像系统。成像系统可被开发为单独的 ASIC,也可以是诸如 DSP 的可编程处理器。 发射单元需要控制 100V 至 200V 的信号摆幅。大多数情况都将使用高电压 FET 实现。控制 FET 可采用以下两种方法中的一种:开-关(推挽)或 AB 级线性控制。推挽的方式最为常见,因为该方式仅需要更为简单且更低成本的接口连接至 FET。AB 级的方法可显著改善谐波失真,但需要更为复杂的驱动器并消耗更多功率。系统及设备制造商选择了多种多样的 TI 产品用于其超声波成像应用,包括运算放大器、单路/双路和八路 ADC(均带有快速输入过载恢复及卓越的动态性能)、数字信号处理器和集成了 8 通道、低功耗超声波前端 IC 的 VCA8617。TI 还提供了具有串行 LVDS 接口的高级 8 通道、12 位数据转换器 ADS5270。 推荐资源 应用手册和用户指南应用手册 (7)
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| 标题 | 摘要 | 类型 | 大小 (KB) | 日期 | 查看次数 | 下载最新英文版本 |
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| 8.19 MB | 2013年 5月 6日 | 0 | 下载最新的英文版本 (Rev.H) | |||
| 9.09 MB | 2013年 5月 2日 | 3561 | ||||
| 3.34 MB | 2013年 5月 2日 | 2104 | ||||
| 3 MB | 2013年 4月 10日 | 2104 | ||||
| 5.18 MB | 2010年 9月 7日 | 0 | 下载最新的英文版本 (Rev.H) | |||
| 2.38 MB | 2010年 6月 8日 | 721 | ||||
| 4.5 MB | 2009年 6月 12日 | 0 | 下载最新的英文版本 (Rev.B) |
| 名称 | 器件型号 | 公司 | 工具/软件类型 |
| AFE5808A 评估模块 | AFE5808AEVM | Texas Instruments | 评估模块和开发板 |
| AFE5816 评估模块 | AFE5816EVM | Texas Instruments | 评估模块和开发板 |
| AFE5818 评估模块 | AFE5818EVM | Texas Instruments | 评估模块和开发板 |
| AFE58JD16 评估模块 | AFE58JD16EVM | Texas Instruments | 评估模块和开发板 |
| AFE58JD18 评估模块 | AFE58JD18EVM | Texas Instruments | 评估模块和开发板 |
| VCA2615EVM 评估模块 | VCA2615EVM | Texas Instruments | 评估模块和开发板 |
| VCA2617EVM 评估模块 | VCA2617EVM | Texas Instruments | 评估模块和开发板 |
| VCA2619 评估模块 | VCA2619EVM | Texas Instruments | 评估模块和开发板 |
| VCA5807 评估模块 | VCA5807EVM | Texas Instruments | 评估模块和开发板 |
| 标题 | 摘要 | 类型 | 大小 (MB) | 日期 | 查看次数 | 下载最新英文版本 |
| 515 KB | 2012年 11月 9日 | 326 |
| 标题 | 摘要 | 类型 | 大小 (MB) | 日期 | 查看次数 | 下载最新英文版本 |
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| 1.86 MB | 2011年 4月 5日 | 0 | 下载英文版本 | |||
| 1.71 MB | 2011年 4月 5日 | 0 | 下载英文版本 (Rev.A) | |||
| HTM | 9 KB | 2011年 3月 16日 | 83 | |||
| 793 KB | 2011年 3月 16日 | 199 | ||||
| 1.69 MB | 2011年 3月 6日 | 201 | ||||
| 333 KB | 2010年 6月 8日 | 376 | ||||
| 583 KB | 2009年 11月 4日 | 0 | 下载英文版本 | |||
| 358 KB | 2009年 3月 18日 | 47 | ||||
| HTM | 9 KB | 2008年 11月 11日 | 296 | |||
| 115 KB | 2008年 11月 3日 | 886 | ||||
| 187 KB | 2008年 10月 31日 | 330 |