LCD 测试设备

LCD 测试设备

设计注意事项

在下方可查找测试液晶显示器设备的集成电路和参考设计(配有原理图、测试数据和设计文件),这些资源显示了:

  • 用于高性能 SAR 数据转换器、高速放大器和精密放大器的数据采集信号链设计方法(可缩短投入市场的时间)
  • 用于优化高通道数 LCD 测试设备设计的通道密度、功耗、电源管理、时钟分配和信号链性能的方法
  • 有关最大程度地降低由于基准电压加载、时钟和配电而导致的通道间变化的示例

技术文章

应用手册和用户指南

应用手册 (4)

标题 摘要 类型 大小 (KB) 日期 查看次数 下载最新英文版本
PDF 108 KB 2018年 8月 31日 0
PDF 78 KB 2017年 6月 14日 0
PDF 867 KB 2016年 9月 19日 0
PDF 132 KB 2015年 4月 16日 0

产品公告和白皮书

白皮书 (3)

标题 摘要 类型 大小 (MB) 日期 查看次数 下载最新英文版本
PDF 1.2 MB 2018年 10月 23日 0
PDF 1.25 MB 2016年 9月 15日 0
PDF 1011 KB 2016年 1月 26日 0

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