LCD 测试设备

LCD 测试设备

设计注意事项

在下方可查找测试液晶显示器设备的集成电路和参考设计(配有原理图、测试数据和设计文件),这些资源显示了:

  • 用于高性能 SAR 数据转换器、高速放大器和精密放大器的数据采集信号链设计方法(可缩短投入市场的时间)
  • 用于优化高通道数 LCD 测试设备设计的通道密度、功耗、电源管理、时钟分配和信号链性能的方法
  • 有关最大程度地降低由于基准电压加载、时钟和配电而导致的通道间变化的示例

技术文章

应用手册和用户指南

应用手册 (4)

标题 摘要 类型 大小 (KB) 日期 查看次数 下载最新英文版本
HTM 8 KB 2017年 6月 14日 189
PDF 131 KB 2017年 2月 9日 1789
HTM 9 KB 2016年 9月 19日 2234
HTM 8 KB 2015年 4月 16日 677

产品公告和白皮书

白皮书 (3)

标题 摘要 类型 大小 (MB) 日期 查看次数 下载最新英文版本
PDF 1.25 MB 2016年 9月 15日 371
PDF 1011 KB 2016年 1月 26日 396
PDF 697 KB 2014年 6月 17日 1281

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