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AFE2256

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适用于数字 X 射线平板检测器的 256 通道模拟前端 (AFE)

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全新 AFE3256 正在供货 适用于动态和半动态 X 射线平板检测器的 256 通道模拟前端 (AFE) Higher integration, fast scan time

AFE2256

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产品详情

Number of input channels 256 Resolution (Bits) 16 Features Internal Reference Buffer, Nap Mode, Power Down, X-ray Interface type SPI/LVDS Operating temperature range (°C) 0 to 85 Rating Catalog
Number of input channels 256 Resolution (Bits) 16 Features Internal Reference Buffer, Nap Mode, Power Down, X-ray Interface type SPI/LVDS Operating temperature range (°C) 0 to 85 Rating Catalog
COF (TBN) 325 1039.525 mm² 48.35 x 21.5 COF (TDR) 325 1039.525 mm² 48.35 x 21.5 COF (TDU) 320 1064 mm² 38 x 28
  • 256 通道
  • 片上，16 位 ADC
  • 光电二极管抗短路
  • 高性能：
    • 噪声：750 电子 RMS （1.2pC 输入电荷范围）
    • 低相关噪声
    • 积分非线性：±2LSB，带内部 16 位 ADC
    • 扫描时间：< 20µs 至 204.8µs
  • 积分：
    • 六种可选、满标量程输入范围：0.6pC（最小）至 9.6pC（最大）
    • 内部定时发生器 (TG)
    • 内置相关双采样器
    • 流水线式“集成和读取”，用于提高集成期间的吞吐量数据读取
    • 串行低压差分信令 (LVDS) 输出
  • 简单电源方案：
    • AVDD1 = 1.85V
    • AVDD2 = 3.3V
  • 低功耗
  • 小睡模式和完全断电模式
  • 定制 Chip-On-Film (COF) 封装
  • 256 通道
  • 片上，16 位 ADC
  • 光电二极管抗短路
  • 高性能：
    • 噪声：750 电子 RMS （1.2pC 输入电荷范围）
    • 低相关噪声
    • 积分非线性：±2LSB，带内部 16 位 ADC
    • 扫描时间：< 20µs 至 204.8µs
  • 积分：
    • 六种可选、满标量程输入范围：0.6pC（最小）至 9.6pC（最大）
    • 内部定时发生器 (TG)
    • 内置相关双采样器
    • 流水线式“集成和读取”，用于提高集成期间的吞吐量数据读取
    • 串行低压差分信令 (LVDS) 输出
  • 简单电源方案：
    • AVDD1 = 1.85V
    • AVDD2 = 3.3V
  • 低功耗
  • 小睡模式和完全断电模式
  • 定制 Chip-On-Film (COF) 封装

AFE2256 是一款 256 通道模拟前端 (AFE)，旨在满足基于平板检测器 (FPD) 的数字 X 射线系统的要求。该器件包含 256 个集成器、1 个用于满量程电荷电平选择的可编程增益放大器 (PGA)、1 个带有双电源的相关双采样器和 256:4 模拟多路复用器。

该器件还具有四个 16 位逐次逼近寄存器 (SAR) 模数转换器 (ADC)。来自 ADC 的串行数据采用低压差分信令 (LVDS) 格式。

小睡和断电模式能够大幅降低功耗，在由电池供电的系统中极其实用。

申请完整数据表或其他设计资源：申请 AFE2256

AFE2256 是一款 256 通道模拟前端 (AFE)，旨在满足基于平板检测器 (FPD) 的数字 X 射线系统的要求。该器件包含 256 个集成器、1 个用于满量程电荷电平选择的可编程增益放大器 (PGA)、1 个带有双电源的相关双采样器和 256:4 模拟多路复用器。

该器件还具有四个 16 位逐次逼近寄存器 (SAR) 模数转换器 (ADC)。来自 ADC 的串行数据采用低压差分信令 (LVDS) 格式。

小睡和断电模式能够大幅降低功耗，在由电池供电的系统中极其实用。

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* 数据表 AFE2256 适用于数字 X 射线平板检测器的 256 通道模拟前端 数据表 (Rev. C) PDF | HTML 英语版 (Rev.C) PDF | HTML 2024年 1月 8日
模拟设计期刊 选择多通道超低电流测量 IC PDF | HTML 英语版 PDF | HTML 2022年 1月 20日
技术文章 Advancements in X-ray imaging PDF | HTML 2017年 3月 28日

设计和开发

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评估板

AFE2256EVM — 用于 256 通道模拟前端的 AFE2256 评估模块

The AFE2256EVM is a compact USB based evaluation kit for evaluating the AFE2256 COF, a 256-channel analog front-end. The EVM is self-contained with DACs and power generation on-board which greatly reduces its dependency on external equipment. The kit consists of an EVM and two separate COF adapters (...)

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PSpice® for TI 可提供帮助评估模拟电路功能的设计和仿真环境。此功能齐全的设计和仿真套件使用 Cadence® 的模拟分析引擎。PSpice for TI 可免费使用，包括业内超大的模型库之一，涵盖我们的模拟和电源产品系列以及精选的模拟行为模型。

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  • REACH
  • 器件标识
  • 引脚镀层/焊球材料
  • MSL 等级/回流焊峰值温度
  • MTBF/时基故障估算
  • 材料成分
  • 鉴定摘要
  • 持续可靠性监测
包含信息：
  • 制造厂地点
  • 封装厂地点

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