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AFE1256

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适用于数字 X 射线平板检测器的 256 通道模拟前端 (AFE)

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Number of input channels 256 Resolution (Bits) 16 Features Internal Reference Buffer, Nap Mode, Power Down, X-ray Interface type SPI Operating temperature range (°C) 0 to 70 Rating Catalog
Number of input channels 256 Resolution (Bits) 16 Features Internal Reference Buffer, Nap Mode, Power Down, X-ray Interface type SPI Operating temperature range (°C) 0 to 70 Rating Catalog
COF (TDS) 314 1064 mm² 38 x 28 DIESALE (TD) — See data sheet
  • 256 个通道
  • 片上 16 位模数转换器 (ADC)
  • 光电二极管抗短路
  • 数据线（列）抗短路
  • 高性能：
    • 噪声：758 electronRMS (eRMS)，1.2pC 范围内的 28pF 传感器电容器
    • 积分非线性：
      内部 16 位 ADC 的 ±2 最低有效位 (LSB)
    • 最小扫描时间：
      • 正常模式下为 37.9µs
      • 2x 双像素模式下为 20µs
  • 集成：
    • 8 个可选满量程范围：
      0.15pC（最小值）至 9.6pC（最大值）
    • 内置相关双采样器
    • 针对更快速数据吞吐量的 2x 双像素模式（两个相邻通道的平均充电）
    • 管道式积分和读取：积分期间允许数据读取
  • 灵活性：
    • 电子和空穴积分
  • 低功耗：
    • 具有 ADC 时，每通道 2.9mW
    • 无 ADC 时，每通道 2.3mW
    • 打盹模式时，每通道 0.1mW
    • 总断电特性
  • 22mm x 5mm 凸出式金属接点芯片，
    适用于带载封装 (TCP) 和 覆晶薄膜封装 (COF)

应用范围

    平板 X 射线检测器

All trademarks are the property of their respective owners.

  • 256 个通道
  • 片上 16 位模数转换器 (ADC)
  • 光电二极管抗短路
  • 数据线（列）抗短路
  • 高性能：
    • 噪声：758 electronRMS (eRMS)，1.2pC 范围内的 28pF 传感器电容器
    • 积分非线性：
      内部 16 位 ADC 的 ±2 最低有效位 (LSB)
    • 最小扫描时间：
      • 正常模式下为 37.9µs
      • 2x 双像素模式下为 20µs
  • 集成：
    • 8 个可选满量程范围：
      0.15pC（最小值）至 9.6pC（最大值）
    • 内置相关双采样器
    • 针对更快速数据吞吐量的 2x 双像素模式（两个相邻通道的平均充电）
    • 管道式积分和读取：积分期间允许数据读取
  • 灵活性：
    • 电子和空穴积分
  • 低功耗：
    • 具有 ADC 时，每通道 2.9mW
    • 无 ADC 时，每通道 2.3mW
    • 打盹模式时，每通道 0.1mW
    • 总断电特性
  • 22mm x 5mm 凸出式金属接点芯片，
    适用于带载封装 (TCP) 和 覆晶薄膜封装 (COF)

应用范围

    平板 X 射线检测器

All trademarks are the property of their respective owners.

AFE1256 是一款 256 个通道模拟前端 (AFE)，此器件被设计成满足基于平板检测器 (FPD) 的数字 X 射线系统的的要求。此器件包括 256 个积分器，一个用于满量程充电电平选择的可编程增益放大器 (PGA)，一个具有双组的相交双采样器 (CDS)，256:4 模拟复用器和四个板载 16 位，逐次逼近寄存器 (SAR) 模数转换器 (ADC)。ADC 提供格式为 SPI的串行数据。

硬件可选积分极性可实现正或负电荷积分，并在系统设计中提供更多的灵活性。此打盹特性大大节省了能耗。这一节电特性特别适合于电池供电类系统。

该器件可以 22mm × 5mm 凸出式金属接点芯片形式提供，也提供 38mm × 28mm、COF-314 TDS 封装。

如需完整数据表或其他设计资源，请点击：请求获取 AFE1256

AFE1256 是一款 256 个通道模拟前端 (AFE)，此器件被设计成满足基于平板检测器 (FPD) 的数字 X 射线系统的的要求。此器件包括 256 个积分器，一个用于满量程充电电平选择的可编程增益放大器 (PGA)，一个具有双组的相交双采样器 (CDS)，256:4 模拟复用器和四个板载 16 位，逐次逼近寄存器 (SAR) 模数转换器 (ADC)。ADC 提供格式为 SPI的串行数据。

硬件可选积分极性可实现正或负电荷积分，并在系统设计中提供更多的灵活性。此打盹特性大大节省了能耗。这一节电特性特别适合于电池供电类系统。

该器件可以 22mm × 5mm 凸出式金属接点芯片形式提供，也提供 38mm × 28mm、COF-314 TDS 封装。

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类型 标题 下载最新的英语版本 日期
* 数据表 AFE1256 用于数字 X 射线平板探测器、的 256 通道模拟前端 数据表 (Rev. D) PDF | HTML 英语版 (Rev.D) PDF | HTML 2016年 6月 24日
模拟设计期刊 选择多通道超低电流测量 IC PDF | HTML 英语版 PDF | HTML 2022年 1月 20日
EVM 用户指南 AFE1256COF EVM Introduction User Guide 2013年 11月 5日

设计和开发

如需其他信息或资源，请点击以下任一标题进入详情页面查看（如有）。

评估板

AFE1256EVM — 用于数字 X 射线平板检测器的 256 通道模拟前端的 AFE1256 评估模块

AFE1256EVM 是用于评估 256 通道模拟前端 AFE1256 COF 的基于紧凑型 USB 的评估套件。此 EVM 是一种包含 DAC 和板载信号发生器的自成一体模块，可大大减小对外部设备的依赖，其全部所需仅仅是电源。此套件包含 EVM 和单独 COF 适配器以及简单易用的软件，可用于评估 COF 器件的性能。COF 适配器是分离式模块，因此一次 EVM 设置可评估多个 COF 适配器。USB 2.0 接口可提供快速配置下载，并通过微控制器实现 FPGA-PC 通信。

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PSpice® for TI 可提供帮助评估模拟电路功能的设计和仿真环境。此功能齐全的设计和仿真套件使用 Cadence® 的模拟分析引擎。PSpice for TI 可免费使用，包括业内超大的模型库之一，涵盖我们的模拟和电源产品系列以及精选的模拟行为模型。

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  • 制造厂地点
  • 封装厂地点

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