AFE0256
- 256 个通道
- 片上,14 位模数转换器 (ADC)
- 高性能:
- 噪声:758 electronRMS (eRMS),1.2pC 范围内的 28pF 传感器电容器
- 积分非线性:内部 14 位 ADC 的 ±1.25 最低有效位 (LSB)
- 最小扫描时间:
- 正常模式:37.9µs,内部 ADC
- 2x 双像素模式:26µs,内部 ADC
- 集成:
- 8 个可选、满量程范围:
- 0.15pC(最小值)至 9.6pC(最大值)
- 内置相关双采样器
- 针对更快数据吞吐量的 2x 双像素模式:
- 两个相邻通道的平均充电
- 管道式积分和读取:
- 积分期间允许数据读取
- 8 个可选、满量程范围:
- 灵活性:
- 电子和空穴积分
- 为外部高分辨率 ADC 提供的模拟输出
- 低功耗:
- 具有 ADC 时,每通道 2.9mW
- 无 ADC 时,每通道 2.3mW
- 打盹模式时,每通道 0.1mW
- 总断电特性
- 适合于带载封装 (TCP) 或覆晶薄膜封装 (COF) 的 22m x 5mm 凸出式金属接点芯片
应用范围
- 平板 X 射线检测器
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AFE0256 是一款 256 个通道模拟前端 (AFE),此器件被设计成满足基于平板检测器 (FPD) 的数字 X 射线系统的要求。 此器件包括 256 个积分器,一个用于满量程充电电平检测的可编程增益放大器 (PGA),一个具有双组的相关双采样器 (CDS),256:4 模拟复用器和四个差分输出驱动器。
此器件还特有四个板载 14 位逐次逼近寄存器 (SAR) 模数转换器 (ADC)。 ADC 提供格式为 SPI 的串行数据。
硬件可选积分极性可实现正或负充电荷积分,并且在系统设计中提供更多的灵活性。 此打盹特性大大节省了能耗,并且特别适合于电池供电类系统。
AFE0256 采用具有已知良好凸出式金属接点芯片的 22mm x 5mm 单格式封装。
技术文档
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* | 数据表 | 用于数字化 X 射线的 256 通道模拟前端 数据表 (Rev. A) | 英语版 (Rev.A) | PDF | HTML | 2013年 9月 30日 |
设计和开发
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模拟工具
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