ZHCSFO9A November   2016  – June 2017 OPA2172-Q1 , OPA4172-Q1

PRODUCTION DATA.  

  1. 特性
  2. 应用
  3. 说明
    1.     Device Images
      1.      出色的总谐波失真 (THD) 性能
      2.      JFET 输入低噪声放大器
  4. 修订历史记录
  5. 器件比较表
  6. 引脚配置和功能
    1.     引脚功能
  7. 规格
    1. 7.1 绝对最大额定值
    2. 7.2 ESD 额定值
    3. 7.3 建议运行条件
    4. 7.4 热性能信息
    5. 7.5 电气特征
    6. 7.6 典型特性
  8. 详细 说明
    1. 8.1 概述
    2. 8.2 功能方框图
    3. 8.3 特性 说明
      1. 8.3.1 EMI 抑制
      2. 8.3.2 相位反转保护
      3. 8.3.3 电容负载和稳定性
    4. 8.4 器件功能模式
      1. 8.4.1 共模电压范围
      2. 8.4.2 电气过载
      3. 8.4.3 过载恢复
  9. 应用 和实施
    1. 9.1 应用信息
    2. 9.2 典型 应用
      1. 9.2.1 采用隔离电阻器的电容负载驱动解决方案
        1. 9.2.1.1 设计要求
        2. 9.2.1.2 详细设计流程
        3. 9.2.1.3 应用曲线
      2. 9.2.2 双向电流源
      3. 9.2.3 JFET 输入低噪声放大器
  10. 10电源建议
  11. 11布局
    1. 11.1 布局指南
    2. 11.2 布局示例
  12. 12器件和文档支持
    1. 12.1 器件支持
      1. 12.1.1 开发支持
        1. 12.1.1.1 TINA-TI(免费软件下载)
    2. 12.2 文档支持
      1. 12.2.1 相关文档
    3. 12.3 相关链接
    4. 12.4 接收文档更新通知
    5. 12.5 社区资源
    6. 12.6 商标
    7. 12.7 静电放电警告
    8. 12.8 术语表
  13. 13机械、封装和可订购信息

封装选项

机械数据 (封装 | 引脚)
散热焊盘机械数据 (封装 | 引脚)
订购信息

详细设计流程

Figure 47 描述了驱动电容负载的单位增益缓冲器。Equation 1 显示了 Figure 47 中的电路传递函数。Figure 47 未显示运算放大器的开环输出电阻 Ro

Equation 1. OPA2172-Q1 OPA4172-Q1 ai_refdes_eqn_bos618.gif

Equation 1 中的传递函数存在极点和零点。极点频率 (fp) 取决于 (Ro + RISO) 和 CLOAD。组件 RISO 和 CLOAD 决定了零点频率 (fz)。通过选择 RISO,可使开环增益 (AOL) 与 1/β 间的接近率 (ROC) 达到 20 dB/十倍频,从而确保系统稳定性。Figure 48 阐述了这一概念。请注意,单位增益缓冲器的 1/β 曲线为 0dB。

OPA2172-Q1 OPA4172-Q1 ai_refdes_bodeplot_bos618.gifFigure 48. 具有 RISO 补偿的单位增益放大器

ROC 稳定性分析通常为模拟结果。分析的有效性取决于多种因素,尤其是准确的 Ro 建模。除模拟 ROC 外,可靠的稳定性分析还包括使用函数生成器、示波器以及增益和相位分析器,对电路的过冲百分比和交流增益峰值进行测量。然后,通过这些测量值计算相位裕度。Table 5 显示了与 45° 和 60° 相位裕度对应的过冲百分比和交流增益峰值。有关此设计和可用于代替 OPA172-Q1 的其他备选器件的更多详细信息,请参阅《采用隔离电阻器的电容负载驱动解决方案》精密设计 (TIPD128)。

Table 5. 相位裕度与过冲和交流增益峰值间的关系

相位裕度 过冲 交流增益峰值
45° 23.3% 2.35dB
60° 8.8% 0.28dB